凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置?，F有的方法依賴操作者長期的經驗積累和主觀判斷，檢測結果的可重復性和穩定性不能得到保證。本發明專利技術中面光源、鍍銅滾筒體以及CCD相機從上到下依次豎直平行設置，磨砂玻璃設置在面光源與鍍銅滾筒體之間，面光源、CCD相機以及磨砂玻璃封裝在檢測傳感器箱內，檢測傳感器箱內還設有壁掛式空調機，CCD相機安裝在快速安裝適配架上；CCD相機連接有上位機，上位機連接有下位機，下位機連接有報警器，面光源連接有微處理器復位芯片，微處理器復位芯片連接有獨石電容。本發明專利技術能夠檢測鍍銅滾筒體上所有的缺陷，并且可以實時保存所有的缺陷圖像。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種表面缺陷檢測裝置，特別涉及一種凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測>J-U ρ α裝直。
技術介紹
表面缺陷檢測是機器視覺檢測領域的一個主要問題，在工業生產中的各個領域都有著廣泛的應用。凹版制版中，在鋼質的滾筒上鍍鎳，再鍍制版銅層，這層制版銅層的質量直接關系到印刷質量，因此必須仔細檢查電鍍銅層中可能出現的針孔、裂紋等表面缺陷，并 在制版前修正。目前我國仍主要采用人工檢測，這種檢測方法存在費時費力，檢測速度慢的缺點。傳統的檢測凹版滾筒鍍銅層表面缺陷的方法是操作者通過肉眼進行觀察決定凹版滾筒鍍銅層表面是否存在缺陷，顯然，這種方法主要依賴操作者長期的經驗積累和主觀判斷，檢測結果的可重復性和穩定性不能得到保證。如何在生產過程中在線自動檢測凹版滾筒鍍銅層表面缺陷，一直是生產企業非常關注的問題。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題是提供一種凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置，該檢測裝置能夠檢測鍍銅滾筒體上所有的缺陷，并且可以實時保存所有的缺陷圖像，達到了實時、準確、穩定的檢測凹版滾筒鍍銅層表面缺陷的要求。本專利技術解決技術問題所采取的技術方案為凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置，包括CCD相機、面光源、鍍銅滾筒體、磨砂玻璃、檢測傳感器箱以及壁掛式空調機。所述CCD相機為數碼矩陣CCD相機，面光源為單色紅外光譜的發光二極管光源板，面光源、鍍銅滾筒體以及CXD相機從上到下依次豎直平行設置，CXD相機檢測從面光源發射過來的光路，面光源發射出的光路照射到鍍銅滾筒體上的光面積等于鍍銅滾筒體的水平方向的截面積，且與鍍銅滾筒體的水平方向的截面積重合；磨砂玻璃設置在面光源與鍍銅滾筒體之間，磨砂玻璃與面光源設置在同一光路上，磨砂玻璃水平布置；所述面光源、CCD相機以及磨砂玻璃封裝在檢測傳感器箱內，檢測傳感器箱內還設有壁掛式空調機，CCD相機安裝在快速安裝適配架上；CCD相機連接有上位機，上位機連接有下位機，下位機與上位機通過串行接口進行通信連接，下位機連接有報警器，面光源連接有用于控制面光源電流強度的微處理器復位芯片，微處理器復位芯片連接有用于電路濾波的獨石電容。本專利技術的有益效果采用上述技術方案的凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置，通過微處理器復位芯片來控制通過面光源的電流強度，從而控制其光強，從而可以獲得合適的光強，使得位于該測量區域內的鍍銅滾筒體的各種缺陷得以清楚的顯現，為缺陷的采集、識別和判斷奠定基礎；用微處理器復位芯片驅動面光源具有電路簡單、面光源電流可連續調節、成本低、效率高、工作壽命長、可靠性高的優點；CCD相機對鍍銅滾筒體進行實時檢測，通過C⑶相機采集鍍銅滾筒體的圖像，上位機對采集過來的圖像進行分析和處理，可以獲知鍍銅滾筒體是否存在缺陷，系統自動將所有的缺陷圖像存儲到數據庫中，并且根據缺陷情況報警。附圖說明圖1為本專利技術的結構示意圖。具體實施例方式如圖1所示，本實施例包括(XD相機1、面光源2、鍍銅滾筒體3、磨砂玻璃4、檢測傳感器箱5、壁掛式空調機6，CCD相機I為數碼矩陣CCD相機，面光源2為單色紅外光譜的發光二極管光源板，面光源2、鍍銅滾筒體3以及CXD相機I從上到下依次豎直平行設置，CXD相機I檢測從面光源2發射過來的光路，面光源2發射出的光路照射到鍍銅滾筒體3上的光面積等于鍍銅滾筒體3的水平方向的截面積，且與鍍銅滾筒體3的水平方向的截面積重合；磨砂玻璃4設置在面光源2與鍍銅滾筒體3之間，磨砂玻璃4與面光源2設置在同一光路上，磨砂玻璃4水平布置，面光源2發出的光經過磨砂玻璃4透射向所有方向散射，以致從各個方向看來，其亮度接近相等，可近似作為均勻散射光對待；面光源2、CCD相機I以及磨砂玻璃4封裝在檢測傳感器箱5內，檢測傳感器箱5內還設有壁掛式空調機6，CCD相機I安裝在快速安裝適配架8上，CXD相機I連接有上位機7，上位機7連接有下位機11，下位機11與上位機7通過串行接口進行通信連接，下位機11連接有報警器12，通過下位機11控制報警器12報警，面光源2連接有用于控制面光源2電流強度的微處理器復位芯片9，通過微處理器復位芯片9來控制通過面光源2的電流強度，從而控制其光強，從而可以獲得合適的光強，使得位于該測量區域內的鍍銅滾筒體3的各種缺陷得以清楚的顯現，為缺陷的采集、識別和判斷奠定基礎；采用微處理器復位芯片9驅動面光源2具有電路簡單、面光源2電流可連續調節、成本低、效率高、工作壽命長、可靠性高的優點；微處理器復位芯片9連接有用于電路濾波的獨石電容10，以減小輸出紋波。CCD相機I對鍍銅滾筒體3進行實時檢測，通過CXD相機I采集鍍銅滾筒體3的圖像，上位機7對采集過來的圖像進行分析和處理，可以獲知鍍銅滾筒體3是否存在缺陷，系統自動將所有的缺陷圖像存儲到數據庫中，并且根據缺陷情況報警。本專利技術凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置，在檢測鍍銅滾筒體3過程中，如果鍍銅滾筒體3存在缺陷，則面光源2照射過來的光線將透過鍍銅滾筒體3存在的缺陷照射在CXD相機I上；如果鍍銅滾筒體3不存在缺陷，則面光源2照射過來的光線將不會透過鍍銅滾筒體3照射在CXD相機I上；也就是說，當鍍銅滾筒體3不存在缺陷時，通過CXD相機I得到全部是黑色背景的圖像，圖像的顏色分布均勻；當鍍銅滾筒體3存在缺陷時，通過CCD相機I得到帶有亮斑的黑色背景的圖像，圖像的顏色分布不均勻；CCD相機I拍攝到的圖像將被傳輸給上位機7，通過軟件對其進行分析，若發現鍍銅滾筒體3存在缺陷，則上位機7自動記錄下缺陷所對應圖像、缺陷所在的位置、時間并且通過下位機11控制報警器12報警，同時上位機7顯示界面的相應工位閃爍報警。本專利技術能夠檢測鍍銅滾筒體3上所有孔徑Slmm的缺陷，漏報率< 1%，重復檢報率< 1%，并且可以實時保存所有的缺陷圖像，達到了實時、準確、穩定的檢測凹版滾筒鍍銅層表面缺陷的要求。本專利技術具有識別精度高、識別速度快、可靠性高的特點，徹底解決了傳統檢測方法的不可重復性、主觀性等問題。權利要求1.凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置，包括C⑶相機、面光源、鍍銅滾筒體、磨砂玻璃、檢測傳感器箱以及壁掛式空調機，其特征在于所述CCD相機為數碼矩陣CCD相機，面光源為單色紅外光譜的發光二極管光源板，面光源、鍍銅滾筒體以及CCD相機從上到下依次豎直平行設置，CXD相機檢測從面光源發射過來的光路，面光源發射出的光路照射到鍍銅滾筒體上的光面積等于鍍銅滾筒體的水平方向的截面積，且與鍍銅滾筒體的水平方向的截面積重合；磨砂玻璃設置在面光源與鍍銅滾筒體之間，磨砂玻璃與面光源設置在同一光路上， 磨砂玻璃水平布置；所述面光源、CCD相機以及磨砂玻璃封裝在檢測傳感器箱內，檢測傳感器箱內還設有壁掛式空調機，CCD相機安裝在快速安裝適配架上；CCD相機連接有上位機， 上位機連接有下位機，下位機與上位機通過串行接口進行通信連接，下位機連接有報警器， 面光源連接有用于控制面光源電流強度的微處理器復位芯片，微處理器復位芯片連接有用于電路濾波的獨石電容。全文摘要本專利技術公開了一種凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置。現有的方法依賴操作者長期的經驗積累和主觀判斷，檢測結果的可重復性和穩定性不能得到保證。本專利技術中面光源、鍍銅滾筒體以及CCD相機從上到下依次豎直平行設置，磨砂玻璃設置在面光源與鍍銅滾筒體之間，面光源本文檔來自技高網...

【技術保護點】
凹版滾筒鍍銅層表面缺陷檢測裝置，包括CCD相機、面光源、鍍銅滾筒體、磨砂玻璃、檢測傳感器箱以及壁掛式空調機，其特征在于：所述CCD相機為數碼矩陣CCD相機，面光源為單色紅外光譜的發光二極管光源板，面光源、鍍銅滾筒體以及CCD相機從上到下依次豎直平行設置，CCD相機檢測從面光源發射過來的光路，面光源發射出的光路照射到鍍銅滾筒體上的光面積等于鍍銅滾筒體的水平方向的截面積，且與鍍銅滾筒體的水平方向的截面積重合；磨砂玻璃設置在面光源與鍍銅滾筒體之間，磨砂玻璃與面光源設置在同一光路上，磨砂玻璃水平布置；所述面光源、CCD相機以及磨砂玻璃封裝在檢測傳感器箱內，檢測傳感器箱內還設有壁掛式空調機，CCD相機安裝在快速安裝適配架上；CCD相機連接有上位機，上位機連接有下位機，下位機與上位機通過串行接口進行通信連接，下位機連接有報警器，面光源連接有用于控制面光源電流強度的微處理器復位芯片，微處理器復位芯片連接有用于電路濾波的獨石電容。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：胡更生，項秀陽，
申請(專利權)人：杭州電子科技大學，
類型：發明
國別省市：