本發(fā)明專利技術(shù)公開了四探針測(cè)試儀暗箱，暗箱具有可設(shè)置四探針測(cè)試儀在其中的腔室，在暗箱的側(cè)上部開設(shè)開口，在開口上設(shè)置可開合的手動(dòng)控制門，在手動(dòng)控制門上開設(shè)連通腔室與外部的窗口，由外向內(nèi)依次在窗口內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置封住窗口的透光密封層、可安裝濾光片的濾光片卡槽、可安裝擋板的擋板卡槽，通過透光密封層、濾光片、擋板的配合可使腔室處于暗態(tài)、加光、濾光的狀態(tài)，在腔室內(nèi)壁、手動(dòng)控制門背面貼設(shè)減震材料，可在降低外界震動(dòng)干擾的情況下測(cè)得薄膜材料在暗態(tài)條件、加光條件、不同波長(zhǎng)光線照射條件下的方塊電阻，測(cè)量結(jié)果精確。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及四探針測(cè)試儀暗箱。
技術(shù)介紹
四探針探測(cè)儀被廣泛應(yīng)用于太陽能電池片領(lǐng)域，用于測(cè)量薄膜材料的方塊電阻， 它利用四根等間距的探針扎在被測(cè)的薄膜材料樣品的表面，由一個(gè)恒流源給外側(cè)的兩根探 針提供一個(gè)小的電流，然后測(cè)量中間兩根探針之間的電壓，就可以求出被測(cè)薄膜材料樣品 的方塊電阻，四探針探測(cè)儀對(duì)外部環(huán)境的要求比較高，空氣中的灰塵、光照、外界震動(dòng)等因 素都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響，現(xiàn)有的四探針探測(cè)儀，自身直接暴露在空氣中，受以上的外部 因素的影響較大，因此在不同條件下測(cè)出的方塊電阻值會(huì)略有差異，測(cè)量的精確性受到影 響。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的是提供可降低外部環(huán)境對(duì)四探針測(cè)試儀的影響，提高四探針測(cè)試儀 的測(cè)量精確性的四探針測(cè)試儀暗箱。為達(dá)到上述目的，本專利技術(shù)采用的技術(shù)方案是四探針測(cè)試儀暗箱，所述暗箱具有腔 室、開設(shè)在所述暗箱側(cè)上部的開口，所述腔室通過所述開口與外部相連通，在所述開口上設(shè) 置可開合的手動(dòng)控制門，在所述手動(dòng)控制門上設(shè)置窗口，沿由外向內(nèi)的方向在所述窗口的 內(nèi)側(cè)壁上依次設(shè)置可封住所述窗口的透光密封層、可用于安裝濾光片的濾光片卡槽、可用 于安裝擋板的擋板卡槽，所述暗箱具有暗態(tài)、加光、濾光三種狀態(tài)，當(dāng)所述暗箱處于暗態(tài)狀 態(tài)時(shí)，所述擋板安裝在所述擋板卡槽內(nèi)，當(dāng)所述暗箱處于加光狀態(tài)時(shí)，所述擋板、所述擋板 卡槽相分離，當(dāng)所述暗箱處于濾光狀態(tài)時(shí)，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，所述濾光片安 裝在所述濾光片卡槽內(nèi)。優(yōu)選地，所述手動(dòng)控制門與水平面呈45度角設(shè)置，在所述手動(dòng)控制門背面的周向 方向的邊緣設(shè)置密封減震材料。優(yōu)選地，設(shè)置減震材料，所述減震材料貼設(shè)在所述腔室的內(nèi)壁、所述手動(dòng)控制門的 背面上。由于上述技術(shù)方案的運(yùn)用，本專利技術(shù)與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn)設(shè)置四探針測(cè) 試儀暗箱，暗箱具有可容納四探針測(cè)試儀的腔室，在腔室的內(nèi)壁上貼設(shè)減震材料，可以降低 外部震動(dòng)對(duì)測(cè)試儀的測(cè)量結(jié)果的影響，測(cè)量結(jié)果精確，暗箱的側(cè)上部具有開口，在開口上設(shè) 置可開合的手動(dòng)控制門，手動(dòng)控制門與水平面呈45度角，在手動(dòng)控制門上設(shè)置可使光線穿 過的窗口，由外向內(nèi)一次在窗口的內(nèi)壁上設(shè)置可透過光線的透光密封層、可安裝濾光片的 濾光片卡槽、可安裝擋板的擋板卡槽，濾光片、擋板都可以根據(jù)不同的需求安裝或拆卸，這 樣暗箱內(nèi)就可以具有暗態(tài)、加光、濾光二種狀態(tài)的測(cè)試條件，進(jìn)一步提聞了四探針測(cè)試儀的測(cè)量精確性。附圖說明附圖1為本專利技術(shù)的主視剖視示意圖。具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖來進(jìn)一步闡述本專利技術(shù)的結(jié)構(gòu)。參見圖1所示，暗箱具有腔室1，四探針測(cè)試儀設(shè)置在腔室I中，在暗箱的側(cè)壁與頂 部連接處開設(shè)開口，在開口上設(shè)置可開合的手動(dòng)控制門2，手動(dòng)控制門2通過自身的側(cè)部可 轉(zhuǎn)動(dòng)得連接在暗箱外壁上，手動(dòng)控制門2轉(zhuǎn)動(dòng)打開時(shí)，開口露出，腔室I通過開口與外部相 連通，手動(dòng)控制門2轉(zhuǎn)動(dòng)閉合時(shí)，開口被封堵住，手動(dòng)控制門2與水平面呈45度角設(shè)置，在 手動(dòng)控制門2上開設(shè)可連通腔室I與外部的窗口，在窗口的內(nèi)側(cè)壁上由外向內(nèi)依次設(shè)置透 光密封層4、濾光片卡槽9、擋板卡槽10,最外層的透光密封層4可采用石英玻璃制成,光線 透過透光密封層4呈45度角照射到待測(cè)的薄膜材料上時(shí)，暗箱處于加光狀態(tài)，透光密封層 4還可以防止灰塵落入腔室I中，當(dāng)需要在暗態(tài)狀態(tài)下測(cè)量薄膜材料的方塊電阻時(shí)，則打開 手動(dòng)控制門2，將擋板6安裝在擋板卡槽10中后關(guān)閉手動(dòng)控制門2，此時(shí)，光線被遮擋，暗箱 處于暗態(tài)狀態(tài)，當(dāng)需要測(cè)量特定波長(zhǎng)的光線照射下的薄膜材料的方塊電阻時(shí)，打開手動(dòng)控 制門2，取出擋板6，將可以濾掉其它波長(zhǎng)的光的濾光片5安裝在濾光片卡槽9中，光線在經(jīng) 過濾光片5后，只余下特定波長(zhǎng)的光照射在待測(cè)的薄膜材料上，此時(shí)暗箱處于濾光狀態(tài)。在圖1中，在手動(dòng)控制門2的背面的邊緣設(shè)置密封減震材料8，密封減震材料8可 以是橡膠墊，在減震的同時(shí)起到了更好的密封作用，在腔室I的內(nèi)壁、手動(dòng)控制門2的背面 上貼設(shè)減震材料7，減震材料7可以是海綿，有效減少了外界震動(dòng)及聲音對(duì)測(cè)量結(jié)果的影 響，待測(cè)的薄膜材料處于減震的環(huán)境中，再根據(jù)測(cè)量需要使薄膜材料處于暗態(tài)條件、加光條 件或不同波長(zhǎng)的光照射的條件下，這樣測(cè)得的方塊電阻結(jié)果較為精確。權(quán)利要求1.四探針測(cè)試儀暗箱，其特征在于所述暗箱具有腔室、開設(shè)在所述暗箱側(cè)上部的開口，所述腔室通過所述開口與外部相連通，在所述開口上設(shè)置可開合的手動(dòng)控制門，在所述手動(dòng)控制門上設(shè)置窗口，沿由外向內(nèi)的方向在所述窗口的內(nèi)側(cè)壁上依次設(shè)置可封住所述窗口的透光密封層、可用于安裝濾光片的濾光片卡槽、可用于安裝擋板的擋板卡槽，所述暗箱具有暗態(tài)、加光、濾光三種狀態(tài)，當(dāng)所述暗箱處于暗態(tài)狀態(tài)時(shí)，所述擋板安裝在所述擋板卡槽內(nèi)，當(dāng)所述暗箱處于加光狀態(tài)時(shí)，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，當(dāng)所述暗箱處于濾光狀態(tài)時(shí)，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，所述濾光片安裝在所述濾光片卡槽內(nèi)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四探針測(cè)試儀暗箱，其特征在于所述手動(dòng)控制門與水平面呈45度角設(shè)置，在所述手動(dòng)控制門背面的周向方向的邊緣設(shè)置密封減震材料。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四探針測(cè)試儀暗箱，其特征在于設(shè)置減震材料，所述減震材料貼設(shè)在所述腔室的內(nèi)壁、所述手動(dòng)控制門的背面上。全文摘要本專利技術(shù)公開了四探針測(cè)試儀暗箱，暗箱具有可設(shè)置四探針測(cè)試儀在其中的腔室，在暗箱的側(cè)上部開設(shè)開口，在開口上設(shè)置可開合的手動(dòng)控制門，在手動(dòng)控制門上開設(shè)連通腔室與外部的窗口，由外向內(nèi)依次在窗口內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置封住窗口的透光密封層、可安裝濾光片的濾光片卡槽、可安裝擋板的擋板卡槽，通過透光密封層、濾光片、擋板的配合可使腔室處于暗態(tài)、加光、濾光的狀態(tài)，在腔室內(nèi)壁、手動(dòng)控制門背面貼設(shè)減震材料，可在降低外界震動(dòng)干擾的情況下測(cè)得薄膜材料在暗態(tài)條件、加光條件、不同波長(zhǎng)光線照射條件下的方塊電阻，測(cè)量結(jié)果精確。文檔編號(hào)G01R1/04GK102998484SQ20111026497公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2011年9月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月8日專利技術(shù)者趙春慶, 蔣劍波, 莫毓東, 吳國(guó)運(yùn) 申請(qǐng)人:昊誠(chéng)光電(太倉(cāng))有限公司本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
四探針測(cè)試儀暗箱，其特征在于：所述暗箱具有腔室、開設(shè)在所述暗箱側(cè)上部的開口，所述腔室通過所述開口與外部相連通，在所述開口上設(shè)置可開合的手動(dòng)控制門，在所述手動(dòng)控制門上設(shè)置窗口，沿由外向內(nèi)的方向在所述窗口的內(nèi)側(cè)壁上依次設(shè)置可封住所述窗口的透光密封層、可用于安裝濾光片的濾光片卡槽、可用于安裝擋板的擋板卡槽，所述暗箱具有暗態(tài)、加光、濾光三種狀態(tài)，當(dāng)所述暗箱處于暗態(tài)狀態(tài)時(shí)，所述擋板安裝在所述擋板卡槽內(nèi)，當(dāng)所述暗箱處于加光狀態(tài)時(shí)，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，當(dāng)所述暗箱處于濾光狀態(tài)時(shí)，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，所述濾光片安裝在所述濾光片卡槽內(nèi)。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：趙春慶，蔣劍波，莫毓東，吳國(guó)運(yùn)，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：昊誠(chéng)光電太倉(cāng)有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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