本發明專利技術公開了一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置，包括：測磁探頭以及調節支撐架。調節支撐架包括：與超導磁體內筒同軸設置的軸向調節桿、用于安裝軸向調節桿的徑向支承部件以及與設置于軸向調節桿上的高度調節部件。其中，軸向調節桿與高度調節部件聯合作用，能夠使得測磁探頭在空間任意方位上進行磁場測量，擴展了調節裝置的調節能力。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及磁共振成像
，更具體地說，特別涉及一種磁共振成像超導磁 體中心區磁場測量裝置。
技術介紹
磁共振成像(MRI)已經成為現代醫學成像的主要手段之一。其成像質量和工作效 率的高低很大程度上取決于磁體中心成像區基礎磁場均勻度的好壞。一般醫學全身成像的超導磁共振成像磁體需要在磁場中心直徑為50cm的球域內 具有勻一的靜磁場，磁場偏差的均方根值要達到IOppm左右。然而由于磁體實際制造過程 中所帶來的偏差，對于設計優良并仔細裝配完成的磁共振成像超導磁體，其主磁場不均勻 度也只能達到均方根IOOppm左右。因此，超導磁共振成像磁體在勵磁之后必須通過勻場， 才能使磁體的主磁場均勻度達到成像要求。在對磁體勻場過程中，我們首先需要準確測量勻場區目標球域表面上的磁場分 布，用測量得到的數據計算磁場不均勻度，判斷是否達到勻場要求。中心勻場區位置的選擇 將決定著最終勻場效果的好壞，而現有的磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置(中心 區磁場測量裝置)在對于磁場中心位置的尋找上調節范圍有限(尋找中心區時，調節能力有 限)，且費時費力，很難保證位置調節的精度。因此本專利技術所給出的用于磁共振成像超導磁體中心區的磁場測量裝置，通過調整 固定于超導磁體內筒或相配的梯度線圈中的徑向可調支撐架及軸向可調轉軸，在保證位置 調整精度的條件下可以快速方便地尋找到成像區磁場中心位置并進行磁場測量，極大提高 了磁共振成像區主磁場的勻場效率。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題為提供一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置， 在本專利技術中，該磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置通過其結構設計，能夠使得測磁 探頭在任意空間方位上進行磁場測量。為解決上述技術問題，本專利技術提供了一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝 置，安裝于超導磁體內筒中，包括用于進行磁場測量的測磁探頭，還包括調節支撐架，所述調節支撐架設置于超導磁體內筒中用于安裝所述測量探 頭;所述調節支撐架包括與超導磁體內筒同軸設置的軸向調節桿、用于安裝所述軸 向調節桿的徑向支承部件以及與設置于所述軸向調節桿上的高度調節部件；所述軸向調節桿可轉動地設置于所述徑向支承部件上；所述高度調節部件可滑動地設置于所述軸向調節桿上；所述測磁探頭可滑動地設置于所述高度調節部件上。優選地，所述徑向支承部件包括安裝套環以及設置于所述安裝套環外緣處的徑向支承桿；所述軸向調節桿可轉動地設置于所述安裝套環上；所述徑向支承桿為三個，并相 鄰的所述徑向支承桿垂直設置；所述徑向支承桿與超導磁體內筒的內壁抵接。優選地，軸向調節桿的桿端設置有轉動把手，所述安裝套環上固定設置有刻度盤， 所述轉動把手位于所述刻度盤的一側。優選地，所述徑向支承桿為可伸縮桿。優選地，所述徑向支承桿包括主桿和調節套管，所述主桿與所述安裝套環連接，所 述調節套管與超導磁體內筒的內壁抵接并和所述主桿螺紋連接。優選地，所述軸向調節桿上套設有安裝套；所述安裝套上具有沿所述軸向調節桿 的軸線方向開設的滑動孔；所述高度調節部件上設置有定位螺栓，所述定位螺栓穿過所述 滑動孔與所述軸向調節桿抵接。優選地，所述安裝套上沿所述滑動孔的長度方向設置有長度調節刻度。優選地，所述高度調節部件上開設有安裝槽，所述測磁探頭可滑動地設置于所述 安裝槽中，所述高度調節部件上設置有固定套環，所述固定套環通過螺栓定位于所述高度 調節部件上。優選地，所述高度調節部件沿其長度方向設置有刻度。本專利技術還提供了一種磁共振裝置，包括超導磁體內筒，所述超導磁體內筒上設置 有梯度線圈，還包括如上述的磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置，所述磁共振成像 超導磁體中心區磁場測量裝置的調節支撐架設置于所述超導磁體內筒中。本專利技術提供了一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置，包括測磁探頭以 及調節支撐架。調節支撐架用于對測量探頭進行空間位置的調節，調節支撐架設置于超導磁體內 筒內，其上安裝有測量探頭，從而能夠實現對超導磁體內筒中各個空間位置的磁場測量。調節支撐架包括與超導磁體內筒同軸設置的軸向調節桿、用于安裝軸向調節桿 的徑向支承部件以及與設置于軸向調節桿上的高度調節部件。軸向調節桿上設置有用于安裝測磁探頭的高度調節部件，高度調節部件能夠隨軸 向調節桿進行轉動，高度調節桿上安裝的測磁探頭形成一個圓形的運動軌跡。通過調節測 磁套頭于高度調節桿上的安裝位置，能夠使得測磁探頭相對于軸向調節桿不同半徑距離的 空間進行磁場測量。軸向調節桿可轉動地設置于徑向支承部件上，高度調節部件可滑動地設置于軸向 調節桿上，結合測磁探頭可滑動地設置于高度調節部件上的結構設計，能夠使得測磁探頭 在超導磁體內筒中的無死角測量，擴展了調節裝置的調節能力。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現 有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本 專利技術的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據 提供的附圖獲得其他的附圖。圖1為本專利技術一種實施例中磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置的安裝后 結構示意圖2為本專利技術一種實施例中磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置的結構示 意圖3為本專利技術一種實施例中徑向支承桿的局部結構示意圖4為本專利技術一種實施例中軸向調節桿的局部結構示意圖5為本專利技術另一種實施例中軸向調節桿的局部結構示意圖1至圖5中部件名稱與附圖標記的對應關系為軸向調節桿I ;安裝套Ia;高度調節部件2 ；徑向支承桿3 ;主桿31 ;調節套管32 ；超導磁體內筒a。具體實施方式本專利技術的核心為提供一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置，在本專利技術 中，該磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置通過其結構設計，能夠使得測磁探頭在任 意空間方位上進行磁場測量。為了使本領域的技術人員更好地理解本專利技術的技術方案，下面結合附圖和具體實 施例對本專利技術作進一步的詳細說明。請參考圖1和圖2，其中，圖1為本專利技術一種實施例中磁共振成像超導磁體中心區 磁場測量裝置的安裝后結構示意圖；圖2為本專利技術一種實施例中磁共振成像超導磁體中心 區磁場測量裝置的結構示意圖。本專利技術提供了一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置，用于對磁共振成像 裝置中心區磁場的磁場分布進行測量。對于目前現有技術中所使用的磁共振成像裝置，其 包括具有勵磁作用的超導磁體內筒a，本專利技術提供的磁共振成像超導磁體中心區磁場測量 裝置(為了便于描述，下面簡稱為測量裝置)安裝于超導磁體內筒a中。在本專利技術中，測量裝置包括測磁探頭以及調節支撐架，其中測磁探頭采用現有技術中所使用常規測磁探頭，用于進行磁場測量，例如磁電阻 傳感器等，其具體結構在此不進行贅述。調節支撐架用于對測量探頭進行空間位置的調節，調節支撐架設置于超導磁體內 筒a內，其上安裝有測量探頭，從而能夠實現對超導磁體內筒a中各個空間位置的磁場測量。在本專利技術中的一個具體實施例中，調節支撐架包括與超導磁體內筒a同軸設置 的軸向調節桿1、用于安裝軸向調節桿I的徑向支承部件以及與設置于軸向調節桿I上的高 度調節部件2。超導磁體內筒a采用圓筒形結構設計，其上適配安裝有梯度線圈，因此，超導磁體 內筒a中的磁場是以其軸線為對稱中心進行分布的。因此，軸向調節桿I的軸線與超導磁 本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種磁共振成像超導磁體中心區磁場測量裝置，安裝于超導磁體內筒（a）中，包括用于進行磁場測量的測磁探頭，其特征在于，還包括調節支撐架，所述調節支撐架設置于超導磁體內筒（a）中用于安裝所述測量探頭；所述調節支撐架包括：與超導磁體內筒（a）同軸設置的軸向調節桿（1）、用于安裝所述軸向調節桿（1）的徑向支承部件以及與設置于所述軸向調節桿（1）上的高度調節部件（2）；所述軸向調節桿（1）可轉動地設置于所述徑向支承部件上；所述高度調節部件（2）可滑動地設置于所述軸向調節桿（1）上；所述測磁探頭可滑動地設置于所述高度調節部件（2）上。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：張國慶，朱自安，趙玲，耿麗斯，王兆連，李培勇，胡金剛，
申請(專利權)人：中國科學院高能物理研究所，濰坊新力超導磁電科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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