【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電磁兼容測試領域，具體涉及一種。
技術介紹
根據GJB151A-97《軍用設備和分系統電磁發射和敏感度要求》的規定，電磁兼容測試分為電磁干擾(EMI)測試和電磁敏感(EMS)測試兩大部分，其中電磁干擾測試又分為傳導發射試驗和輻射發射試驗兩部分。其中傳導發射試驗考察在交、直流電源線上存在的、由被試品產生的干擾信號，而輻射發射試驗考察被測設備經空間發射的信號。輻射發射試驗是指被試品中的某個部件、天線、電纜或者連接件輻射出來的、通過空間傳播的有意或無意的電磁能量。如附附圖說明圖1所示，現有的電磁輻射發射測試系統一般由接收天線、測量接收機和數據記錄裝置組成。系統中接收天線用于接收電磁輻射干擾電壓，測量接收機一方面用于接收天線收到的電磁輻射干擾電壓，另一方面對接收到的電磁輻射干擾電壓經天線系數修正為相應的電場強度輸出給數據記錄裝置，數據記錄裝置用于記錄數據序列。對于具有干擾源信號類型未知、數目未知、混合方式未知特點的輻射電磁干擾源，現有的輻射測試面臨著較大的困難。而盲源分離理論具有無需知道源信號、無需知道源信號混合方式，僅從混合后的測試信號即可分離出源信號的特點，這與此類源信號的電磁干擾測試問題十分匹配。因此選用盲源分離理論解決現實存在的輻射電磁干擾測試問題是十分合適的。而盲源分離理論中，獨立分量分析方法是使用較多的方法。在使用測量接收機采集電磁干擾混合信號時，無法采集電磁干擾混合信號的時間信息，這使得現有測試手段對電磁干擾混合信號的盲源分離效果有限，電磁干擾測試的準確度不夠理想。
技術實現思路
本專利技術針對目前電磁輻射發射測試中使用測量接收機采集電磁...
【技術保護點】
一種基于信號差值改善輻射電磁干擾混合信號盲源分離的方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟一：在測試空間中設置M個測試位置，用于放置接收天線；步驟二：首先在每個測試位置對背景噪聲進行測試，在第i個測試位置測試的背景噪聲信號為然后在每個測試位置對被試品進行輻射發射測試，在第i個測試位置測試的混合信號為ai(i＝1,2,…,M)，ai為被試品自身發射出的電磁干擾混合信號與背景噪聲信號的混合信號；步驟三：以ai(i＝1,2,…,M)與ni(i＝1,2,…,M)為參考量輸入自適應濾波器，濾除混合信號中的背景噪聲信號，得到被試品自身發射的電磁干擾混合信號xi(i＝1,2,…,M)；步驟四：將各個測試位置得到的電磁干擾混合信號xi(i＝1,2,…,M)組合成聯合矩陣X＝[x1,x2…xM]T；步驟五：構建信號差值矩陣對聯合矩陣X進行差值處理，得到新矩陣Z=BX，矩陣Z=[z1,z2…zM]T，z1＝x1?x2，z2＝x2?x3，…，zM＝xM?x1；步驟六：以新矩陣Z為電磁干擾混合信號矩陣，利用獨立分量分析方法做盲源分離。FDA00002499640200012.jpg,FDA000024996402...
【技術特征摘要】
1.一種基于信號差值改善輻射電磁干擾混合信號盲源分離的方法，其特征在于，包括如下步驟 步驟一在測試空間中設置M個測試位置，用于放置接收天線； 步驟二 首先在每個測試位置對背景噪聲進行測試，在第i個測試位置測試的背景噪聲信號為《,(〗 =12，·.·.·.，M);然后在每個測試位置對被試品進行輻射發射測試，在第i個測試位置測試的混合信號為Bi (i = 1，2，···，Mhai為被試品自身發射出的電磁干擾混合信號與背景噪聲信號的混合信號； 步驟三:以ai (i = 1...
【專利技術屬性】
技術研發人員：戴飛，李柏超，陶志杰，林健，
申請(專利權)人：北京航空航天大學，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。