【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種校正由于基本磁場的不均勻性的失真的方法、一種磁共振設(shè)備、一種計算機(jī)程序產(chǎn)品以及一種電子可讀的數(shù)據(jù)載體。
技術(shù)介紹
磁共振技術(shù)(對于磁共振下面簡稱為MR)是能夠用來產(chǎn)生檢查對象內(nèi)部的圖像的公知技術(shù)。簡單地說,為此在磁共振設(shè)備中將檢查對象定位在具有O. 2特斯拉至7特斯拉甚至更高場強(qiáng)的比較強(qiáng)的靜態(tài)的均勻的基本磁場(也稱為Btl場)中,從而其核自旋沿著基本磁場取向。為了觸發(fā)核自旋共振將高頻激勵脈沖(RF脈沖)入射到檢查對象中,測量所觸發(fā)的核自旋共振作為所謂的k空間數(shù)據(jù)并且在其基礎(chǔ)上重建MR圖像或者確定頻譜學(xué)數(shù)據(jù)。為了對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行位置編碼,將快速切換的磁梯度場與基本磁場疊加。將所記錄的測量數(shù)據(jù)數(shù)字化并且作為復(fù)數(shù)的數(shù)值存入k空間矩陣。從該填充有值的k空間矩陣中例如可以借助多維傅里葉變換來重建相關(guān)聯(lián)的MR圖像。沒有困難地以良好的質(zhì)量在受干擾對象影響的區(qū)域中借助磁共振技術(shù)測量測量對象(該測量對象包含影響磁場的干擾對象,例如患者中的金屬植入物)是不可能的,因為干擾對象局部地失真基本磁場。在受干擾對象影響的區(qū)域中基本磁場的由此伴隨的不均勻性既影響核自旋的激勵也影響測量信號(核自旋共振)的采集。然而,因為通常使用金屬植入物(例如螺絲)來固定和/或?qū)R骨折或脊椎骨,甚至用來代替關(guān)節(jié)(例如髖關(guān)節(jié)),盡管如此仍然期望測量具有這種植入物的患者,以便例如檢查植入物自身的變化或者其結(jié)果(植入物的配合,可能的并發(fā)癥如發(fā)炎)。因為其它的成像方法(例如X射線成像方法)同樣受植入物干擾,并且附加地具有比MR成像更差的軟組織分辨率,所以這種MR成像的測量起重要作用。圖1示意性 ...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種用于校正在借助磁共振所確定的圖像數(shù)據(jù)中由于基本磁場的不均勻性的失真的方法,包括如下步驟:?激勵并拍攝檢查對象的第一測量數(shù)據(jù)組和至少一個其它測量數(shù)據(jù)組,其中,這樣激勵并拍攝所述第一測量數(shù)據(jù)組和第二測量數(shù)據(jù)組,使得在其它測量數(shù)據(jù)組中對于每個測量點(diǎn)所接通的梯度與在所述第一測量數(shù)據(jù)組中對于每個相應(yīng)的測量點(diǎn)所接通的梯度相比分別具有附加梯度;?由所述第一測量數(shù)據(jù)組對于每個測量點(diǎn)重建第一組各幅度和相位,并且由至少一個其它測量數(shù)據(jù)組對于每個測量點(diǎn)重建至少一個其它組各幅度和相位;?基于所重建的相位確定在第一測量數(shù)據(jù)組與至少一個其它測量數(shù)據(jù)組的各個相應(yīng)的測量點(diǎn)之間的各相位差;?基于各個所確定的相位差確定至少第一測量的測量數(shù)據(jù)組的每個測量點(diǎn)的空間偏移;?在考慮所確定的空間偏移的條件下將所述第一測量數(shù)據(jù)組的每個測量點(diǎn)的重建的幅度分配到校正的圖像數(shù)據(jù)組的圖像點(diǎn);?存儲和/或顯示所述校正的圖像數(shù)據(jù)組。
【技術(shù)特征摘要】
2011.09.26 DE 102011083395.11.一種用于校正在借助磁共振所確定的圖像數(shù)據(jù)中由于基本磁場的不均勻性的失真的方法,包括如下步驟-激勵并拍攝檢查對象的第一測量數(shù)據(jù)組和至少一個其它測量數(shù)據(jù)組,其中,這樣激勵并拍攝所述第一測量數(shù)據(jù)組和第二測量數(shù)據(jù)組,使得在其它測量數(shù)據(jù)組中對于每個測量點(diǎn)所接通的梯度與在所述第一測量數(shù)據(jù)組中對于每個相應(yīng)的測量點(diǎn)所接通的梯度相比分別具有附加梯度;-由所述第一測量數(shù)據(jù)組對于每個測量點(diǎn)重建第一組各幅度和相位,并且由至少一個其它測量數(shù)據(jù)組對于每個測量點(diǎn)重建至少一個其它組各幅度和相位;-基于所重建的相位確定在第一測量數(shù)據(jù)組與至少一個其它測量數(shù)據(jù)組的各個相應(yīng)的測量點(diǎn)之間的各相位差;-基于各個所確定的相位差確定至少第一測量的測量數(shù)據(jù)組的每個測量點(diǎn)的空間偏移;-在考慮所確定的空間偏移的條件下將所述第一測量數(shù)據(jù)組的每個測量點(diǎn)的重建的幅度分配到校正的圖像數(shù)據(jù)組的圖像點(diǎn);-存儲和/或顯示所述校正的圖像數(shù)據(jù)組。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,借助基于自旋回波的序列激勵并拍攝所述測量數(shù)據(jù)組。3.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,借助傅里葉變換的位移定理從所確定的相位差中確定所述測量點(diǎn)的空間偏移。4.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,在反轉(zhuǎn)脈沖之后并且在拍攝測量數(shù)據(jù)之前接通所述附加梯度。5.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,接通在層方向上的附加梯度并且校正在層方向上的偏移。6.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,在校正的圖像數(shù)據(jù)組中計入至少一個其它測量數(shù)據(jù)組的測量數(shù)據(jù)。7.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,這樣選擇所述附加梯度,使得在附加梯度方向上的估計的最小相位偏移為,并且在附加梯度的方向上的估計的最大相位偏移為+ η。8.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的方法,其中,這樣選擇所述附加梯度,使得通過該附加梯度產(chǎn)生的估計的相位偏移相應(yīng)于估計的空間偏移,其比相應(yīng)于預(yù)計的空間偏移的相位偏移更大。9.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,相位差的確定在對于每個測量點(diǎn)由各個測量值提取相位之后包括所謂的“相位展開”。10.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法,其中,借助包括多個HF發(fā)送線圈和...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:V杰魯斯,L勞爾,M尼特卡,
申請(專利權(quán))人:西門子公司,
類型:發(fā)明
國別省市:
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