一種數(shù)值控制裝置，能夠通過視覺高精度地確認加工條件變更前后的軌跡形狀變化，能夠適當?shù)剡M行驅動軸的參數(shù)調整。該數(shù)值控制裝置具有：根據(jù)預定的位置指令控制各驅動軸的數(shù)值控制部；取得由數(shù)值控制部驅動控制的各驅動軸的位置數(shù)據(jù)的位置數(shù)據(jù)取得部；根據(jù)所取得的各軸的位置數(shù)據(jù)亦即位置反饋以及機床的機械結構的信息，計算機床的工具前端點的坐標的工具坐標計算部；作為反饋軌跡存儲算出的工具前端點的坐標的工具軌跡存儲部；對存儲的反饋軌跡進行畫面顯示的顯示部。
【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及具有顯示機床的工具前端點等代表點的軌跡的功能的數(shù)值控制裝置。
技術介紹
歷來，作為確認加工形狀的誤差的方法，使用重疊顯示機床的工具前端點等的代表點的指令軌跡、和遵照該指令軌跡使工具前端點等的代表點實際移動時的反饋軌跡、通過視覺確認對于指令軌跡的誤差的工具軌跡顯示方法。例如在日本特開2003-75472號公報中公開了根據(jù)從控制裝置取得的伺服信息，在同一顯示框內重疊顯示兩個伺服信息波形的技術。 在日本特開平6-59717號公報中，公開了具有顯示解析NC程序生成的工具的移動軌跡、和在該移動軌跡上重疊顯示根據(jù)該移動軌跡使工具移動時的工具的位置數(shù)據(jù)的功能的NC裝置。在日本特開2006-227886號公報中公開了伺服控制裝置以及伺服系統(tǒng)的調整方法，這里，記載有“向伺服系統(tǒng)提供具有周期性的作為移動指令的正弦波形的圓弧指令，把由此產生的位置反饋數(shù)據(jù)及其1/4周期前或1/4周期后的數(shù)據(jù)或者根據(jù)該1/4周期前或1/4周期后的上述位置指令產生的位置數(shù)據(jù)變換為X軸以及Y軸的各個位置數(shù)據(jù)，在二維平面(X-Y平面)上描畫”。進而在日本特開2011-22666號公報中記載有具有能夠重疊描繪顯示工具軌跡和鉆孔圖和工件圖的NC程序的解析編輯裝置。以前，因為不能分別重疊顯示加工速度等加工條件變更前后的反饋軌跡，所以為了通過視覺比較這些軌跡，需要在不同的顯示器上分別顯示，不能高精度地評價加工條件變更前后的軌跡形狀的不同。例如，在日本特開2003-75472號公報中雖然有關于時間軸基準的重疊的記載,但是未提到工具軌跡那樣的不通過時間軸的數(shù)據(jù)的重疊。在日本特開平6-59717號公報以及日本特開2006-227886號公報中，雖然記載有在指令軌跡上重疊顯示反饋軌跡，但是未提到重疊顯示多個反饋軌跡。再有在日本特開2011-22666號公報中雖然記載有重疊顯示工具軌跡和工件的加工形狀以及鉆孔狀態(tài)，但是未提到重疊顯示多個反饋軌跡的方法。
技術實現(xiàn)思路
因此，本專利技術的目的是提供一種數(shù)值控制裝置，其能夠通過視覺高精度地確認 分析加工條件變更前后的工具的軌跡變化。為實現(xiàn)上述目的，本專利技術提供一種數(shù)值控制裝置，其具有控制機床具有的至少一個驅動軸的數(shù)值控制部；從上述驅動軸的位置反饋數(shù)據(jù)以及上述機床的機械結構的信息計算工具的代表點的第一反饋軌跡的工具坐標計算部；存儲上述第一反饋軌跡的工具軌跡存儲部；和顯示上述第一反饋軌跡的顯示部，上述顯示部在該顯示部上顯示的第一反饋軌跡上重疊顯示至少一個以上的在上述工具軌跡存儲部中存儲的過去的第二反饋軌跡。在優(yōu)選的實施方式中，上述顯示部顯示從用于控制上述驅動軸的位置指令以及上述機床的機械結構的信息算出的工具的代表點的指令軌跡，進而在上述指令軌跡上重疊顯示至少一個以上的上述第一以及第二反饋軌跡。在優(yōu)選的實施方式中，上述指令軌跡或者上述第一以及第二反饋軌跡是把三維軌跡向二維平面投影的軌跡。在優(yōu)選的實施方式中，上述顯示部把上述第一或者第二反饋軌跡對于上述指令軌跡的誤差或者上述第一以及第二反饋軌跡之間的誤差僅在該誤差方向上放大顯示。附圖說明通過參照附圖同時對于以下優(yōu)選的實施方式的說明，能夠更加明了本專利技術的上述或者其他目的、特征以及優(yōu)點。圖1是表示本專利技術的實施方式的數(shù)值控制裝置的概略結構的框圖；圖2是表示數(shù)值控制裝置的處理的一例的流程圖；圖3是表示重疊顯示矩形的指令軌跡、加工條件不同的兩個反饋軌跡的例子的圖；圖4是放大顯示圖3的矩形的角部的圖；圖5是表示放大顯示兩個反饋軌跡對于指令軌跡的誤差的例子的圖；圖6是表示在指令軌跡是圓的情況下放大顯示兩個反饋軌跡對于該指令軌跡的誤差的例子的圖；圖7是表示在二維圖表上重疊投影兩個三維反饋軌跡的例子的圖。具體實施例方式圖1是表示包含本專利技術的具有軌跡顯示功能的數(shù)值控制裝置的系統(tǒng)結構例的圖。機床(機構部)10具有至少一個(在圖示例子中有5個)伺服電動機等的驅動軸12，各個驅動軸12通過數(shù)值控制裝置(CNC) 14控制。數(shù)值控制裝置14具有根據(jù)預定的位置指令控制各驅動軸的數(shù)值控制部16 ;取得通過數(shù)值控制部16驅動控制的各驅動軸12的位置數(shù)據(jù)的位置數(shù)據(jù)取得部18 ;從已取得的各軸的位置數(shù)據(jù)亦即位置反饋數(shù)據(jù)以及機床10的機械結構的各部的尺寸等的信息計算機床的工具的代表點(例如工具前端點)的坐標亦即反饋軌跡的工具坐標計算部20 ;把算出的代表點的坐標作為反饋軌跡存儲的存儲器等的工具軌跡存儲部22 ;畫面顯示存儲的反饋軌跡的監(jiān)視器等顯示器或者顯示部24。數(shù)值控制部16根據(jù)預定的位置指令進行各驅動軸12的反饋控制。位置數(shù)據(jù)取得部18能夠從數(shù)值控制部16取得各驅動軸12的位置指令，工具坐標計算部20能夠根據(jù)該位置指令和機床10的機械結構的信息計算工具前端點的指令軌跡。另外，位置數(shù)據(jù)取得部18能夠取得通過編碼器等未圖示的測定單元測定的各驅動軸12的位置反饋，工具坐標計算部20能夠根據(jù)該位置反饋計算工具的代表點(例如工具前端點)的反饋軌跡。工具坐標計算部20算出的工具的代表點(例如工具前端點)的指令軌跡以及反饋軌跡被存儲在工具軌跡存儲部22內。顯示部24能夠在后述那樣的位置坐標系上對存儲在工具軌跡存儲部22內的指令軌跡以及反饋軌跡進行畫面顯示。圖2是表示本專利技術的數(shù)值控制裝置中的處理的一例的流程圖。首先在步驟SI，上述工具坐標計算部20從各驅動軸12的位置反饋以及機床的各部的尺寸等的結構信息，計算工具的代表點(例如工具前端點)的移動軌跡而作為第一反饋軌跡。第一反饋軌跡被存儲在工具軌跡存儲部22內(步驟S2)。接著在步驟S3，在顯示部24上顯示第一反饋軌跡。進而在接著的步驟S4，與正顯示在顯示部24上的第一反饋軌跡重疊(具體說在與第一反饋軌跡相同的坐標系內)地顯示作為過去的數(shù)據(jù)而存儲的第二反饋軌跡。一般，第二反饋軌跡與第一反饋軌跡比較，工具的代表點(例如工具前端點)應該通過的軌跡(指令軌跡)是相同的，但是是在與第一反饋軌跡不同的移動條件(例如移動速度或者增益參數(shù))下控制機床10的各驅動軸12得到的工具的代表點(例如工具前端點)的軌跡，按照與上述的步驟SI以及S2同樣的順序預先存儲在工具軌跡存儲部22內。此外，也可以在步驟SI之前或者在適當?shù)亩〞r追加在顯示器上顯示指令軌跡的步驟。具體說，根據(jù)各驅動軸的位置指令以及機床的結構信息計算工具的代表點(例如工具前端點)的指令軌跡，在與反饋軌跡相同的坐標系上重疊地顯示出算出的該指令軌跡。由此，能夠通過視覺容易地對該指令軌跡和反饋軌跡進行比較，能夠適當而且迅速地進行驅動軸的參數(shù)調整等。圖3是表示本專利技術的數(shù)值控制裝置14的顯示部24的畫面顯示例的圖，具體說，表示在沿著橫軸(X軸)以及縱軸(Y軸)的尺寸都是20mm的正方形的指令軌跡30，使工具前端點移動而進行切削加工、激光加工或者焊接加工等處理的情況下，依照兩個不同的加工條件(工具的移動條件)對機床進行操作的情況下的工具前端點的反饋軌跡32、34。此外在圖3的例子中在同一位置坐標系(X-Y坐標系)中重疊地顯示指令軌跡30和兩個反饋軌跡32、34，但是在圖3的顯示倍率下幾乎不能識別三個軌跡間的誤差。因此，如圖4所示，顯示部24能夠放大顯示圖3所示的軌跡的一部分(正方形的角部)36。例如在圖4的情況下，在得到了對于指令軌跡30本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種數(shù)值控制裝置（14），其特征在于包括：數(shù)值控制部（16），對機床（10）具有的至少一個驅動軸（12）進行控制；工具坐標計算部（20），根據(jù)上述驅動軸（12）的位置反饋數(shù)據(jù)以及上述機床（10）的機械結構的信息，計算工具的代表點的第一反饋軌跡；工具軌跡存儲部（22），存儲上述第一反饋軌跡；和顯示部（24），顯示上述第一反饋軌跡，其中上述顯示部（24）在該顯示部（24）上顯示的第一反饋軌跡上，重疊顯示至少一個以上的存儲在上述工具軌跡存儲部（22）中的過去的第二反饋軌跡。
【技術特征摘要】
2011.09.26 JP 2011-2090331.一種數(shù)值控制裝置(14)，其特征在于包括數(shù)值控制部(16)，對機床(10)具有的至少一個驅動軸(12)進行控制；工具坐標計算部(20)，根據(jù)上述驅動軸(12)的位置反饋數(shù)據(jù)以及上述機床(10)的機械結構的信息，計算工具的代表點的第一反饋軌跡；工具軌跡存儲部(22)，存儲上述第一反饋軌跡；和顯示部(24)，顯示上述第一反饋軌跡，其中上述顯示部(24)在該顯示部(24)上顯示的第一反饋軌跡上，重疊顯示至少一個以上的存儲在上述工具軌跡存儲部(22)中的過去的第二反饋軌跡。2.根據(jù)權利...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：巖下平輔，小川肇，
申請(專利權)人：發(fā)那科株式會社，
類型：發(fā)明
國別省市：
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