【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)屬于紅外熱像
,特別是涉及。
技術(shù)介紹
紅外焦平面陣列探測器及其紅外圖像后處理技術(shù)的發(fā)展,使得紅外熱像儀在軍事、工業(yè)和民用方面都越來越多地被應(yīng)用。然而由于紅外熱像探測器至今仍然存在探測單元對(duì)熱反應(yīng)存在非均勻,在紅外熱像儀中還不能脫離對(duì)探測元的非均勻校正技術(shù)。由于在紅外熱像裝置中安裝兩個(gè)不同溫度的冷、熱黑體增加了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的復(fù)雜性,且大大提高了裝置的能耗,因而當(dāng)前常用的非均勻校正方法為兩點(diǎn)加一點(diǎn)的非均勻校正方法,硬件架構(gòu)上常使用flash加sram的方案來緩存非均勻校正系數(shù)(參照專利CN201010514957. X)。該方案下的兩點(diǎn)法的系數(shù)數(shù)據(jù)流程為1、出廠前采集探測器在冷、熱黑體環(huán)境下的響應(yīng)數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析。2、上位機(jī)計(jì)算兩點(diǎn)法增益系數(shù)G、偏移系數(shù)0,將系數(shù)下載到裝置的flash中。3、開機(jī)將flash中的G、0載入到sram中進(jìn)行,被非均勻校正模塊讀取進(jìn)行兩點(diǎn)法校正。一點(diǎn)法系數(shù)由FPGA產(chǎn)生,利用補(bǔ)償黑片作為“環(huán)境溫度黑體”對(duì)偏移系數(shù)O系數(shù)進(jìn)行微調(diào),得到O’,以此來削弱因探測器溫漂引起的“非均勻性對(duì)紅外畫面的影響”,但同時(shí)也帶來了畫面停頓對(duì)視覺的影響。由于探測器分辨率的提高,兩點(diǎn)法生成的非均勻校正系數(shù)數(shù)量也隨之提高,以384x288的探測器為例,G、O系數(shù)皆以16位來表示,則需要3. 538944Mbit的flash空間。同時(shí),由于flash讀寫速度慢,系數(shù)的載入和下載過程也非常緩慢。因此,有必要對(duì)此過程進(jìn)行改進(jìn)設(shè)計(jì)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)目的利用紅外熱像儀開機(jī)階段進(jìn)行一點(diǎn)校正的方法降低flash的存儲(chǔ)空間并加速系數(shù)下載過程,同時(shí)提供了一 ...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法,包括下述步驟:(1)采集紅外焦平面分別在“高溫”和“低溫”下的響應(yīng)數(shù)據(jù);(2)通過上位機(jī)計(jì)算得到兩點(diǎn)校正法的增益系數(shù)G,并將其下載到并行flash中;(3)紅外熱像儀開機(jī)啟動(dòng)從flash中載入增益系數(shù)G到sram中;(4)進(jìn)行一次一點(diǎn)校正系數(shù)生成動(dòng)作得到偏移系數(shù)O’;(5)通過對(duì)探測器工作溫度的分析來判斷是否需要進(jìn)行補(bǔ)償,如果是進(jìn)入步驟(6),如果否則轉(zhuǎn)入步驟(7);(6)進(jìn)行一次補(bǔ)償操作,更新一點(diǎn)校正系數(shù)生成動(dòng)作得到偏移系數(shù)O’;(7)進(jìn)行兩點(diǎn)加一點(diǎn)法非均勻校正,并輸出校正結(jié)果。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法,包括下述步驟 (1)采集紅外焦平面分別在“高溫”和“低溫”下的響應(yīng)數(shù)據(jù); (2)通過上位機(jī)計(jì)算得到兩點(diǎn)校正法的增益系數(shù)G,并將其下載到并行flash中; (3)紅外熱像儀開機(jī)啟動(dòng)從flash中載入增益系數(shù)G到sram中; (4)進(jìn)行一次一點(diǎn)校正系數(shù)生成動(dòng)作得到偏移系數(shù)O’; (5)通過對(duì)探測器工作溫度的分析來判斷是否需要進(jìn)行補(bǔ)償,如果是進(jìn)入步驟(6),如果否則轉(zhuǎn)入步驟(7);· (6)進(jìn)行一次補(bǔ)償操作,更新一點(diǎn)校正系數(shù)生成動(dòng)作得到偏移系數(shù)O’; (7)進(jìn)行兩點(diǎn)加一點(diǎn)法非均勻校正,并輸出校正結(jié)果。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外熱像儀非均勻校正系數(shù)生成及控制方法,其特征在于所述步驟(5)中探測器工作溫度的分析為防止過于頻繁的校正,其操作方法為 Ca)探測器實(shí)現(xiàn)一次開機(jī)補(bǔ)償動(dòng)作...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:劉燕,梅平,韋良忠,陳黎明,蔣俊,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:無錫艾立德智能科技有限公司,
類型:發(fā)明
國別省市:
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