一種反射器光度測試的光路系統技術方案

本發明專利技術公開一種反射器光度測試的光路系統，它包括，光源、受光器、半透半反鏡，把光源與受光器分開設置，光源水平方向的光與半透半反鏡的法線成45°入射，產生垂直向下的反射光，其反射光作為被測反射器的0°入射光，經被測反射器的反射產生反向180°垂????直向上的逆反射光透射過半透半反鏡，其逆反射光的光軸為0°線，也是觀察角0°的基準線。能解決最小觀察角α=0°～0.2°的光度測試，實現反射器全范圍觀察角α=0°～2°測試；實現反射器模具及其產品進行全范圍觀察角α=0°～2°光度性能測試與分析，提出確量的質量改進方案；對測試距離小于2m的光度測試系統，其光源光斑的均勻性及受光器的V（λ）特性可大幅度的減小誤差。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術屬于測試光學器件的光路系統。具體的說，它涉及反射器光度測試的光路系統。
技術介紹
傳統的反射器光度CIL值測試系統，按測試距離分國內外有兩種，其一是從光源到被測反射器的測試距離為30.48m大型光路測試系統，其二是測試距離小于2m的小型光路測試系統，兩者原理相同，見附圖1，其中觀察角α是被測反射器3基準中心C到受光器2的中心O2連線與基準中心C到光源I中心O1連線的夾角(α =·tan-1!)。在不同角度測出的反射器光度，反映了反射器的不同質量指標，上述測試系統光路設置存在共同的缺陷在于:見附圖2，(I)光源I與受光器2設置的位置均在同一端，顯而易見，光源I與受光器2之間因受到最小孔徑距a+ r2的限制，在測試反射器時，只能測試α=0.2° 2°，而不能測試小觀察角α=0° 0.2°的光度值及其分析；(2)嚴重影晌了對反射器在α=0° 2°全范圍質量分析，尤其是對反射器模具光場分布特性的分析(觀察角特性)，以便提出確量的改進方案。(3)上述提到的小型測試系統，其光源I與受光器2之間的最小孔徑距離ri+r2只有彡7mm,因太小至使光源I的光斑均勻性與受光器2的V(入)特性誤差都做的很大，直接影響到反射器的測試精度。
技術實現思路
本專利技術的目的在研制一種反射器光度測試的光路系統，試用于反射器全范圍觀察角α=0° 2°的光度測試，能解決(I)最小觀察角α=0° 0.2°光度測試，不再受最小孔徑距Γι+Γ2 的限制；(2)在解決最小觀察角α=0° 0.2°測試基礎上，可以實現對反射器模具及其產品進行全范圍觀察角α=0° 2。光度性能的測試與分析，提出確量的質量改進方案；(3)在解決最小觀察角α =0° 0.2°測試的基礎上，對短距離的光度測試系統，其光源的光斑均勻性及受光器的V ( λ )特性可大幅度的減小誤差，以提高反射器測試精度；(4)在解決最小觀察角α=0° 2°測試的基礎上，可以大幅度縮短測試光路系統的測試距離。本專利技術是通過下述步驟實現的，見附圖3，它包括，光源、受光器、半透半反鏡，其特 征在于:把光源與受光器分開設置，光源水平方向的光與半透半反鏡的法線成45°入射，產生垂直向下的反射光，其反射光作為被測反射器的0°入射光，經被測反射器的反射產生反向180°垂直向上的逆反射光透射過半透半反鏡，其逆反射光的光軸為0°線，也是觀察角0°的基準線。本專利技術的積極效果和優點:(1)解決了最小觀察角α=0° 0.2°的光度測試，能完全實現反射器全范圍觀察角α=0° 2°測試；(2)實現了反射器模具及其產品進行全范圍觀察角α=0° 2。光度性能測試與分析，提出確量的質量改進方案；(3)對測試距離小于2m的光度測試系統，其光源光斑的均勻性及受光器的V ( λ )特性可大幅度的減小誤差，提高了反射器測試精度；(4)本專利技術的反射器光度測試光路系統的測試距離，可從傳統距離大幅度的縮短，減小測試系統占用空間。附圖說明附圖1，是反射器光度CIL值測試原理圖，其中:1為光源、2為受光器、3為被測反射器、 5為觀察角α、6為測試距離D、7為受光器移動方向、8為圓心距R ； 附圖2，是傳統的反射器光度CIL測系統的光路示意圖，其中:1為光源、2為受光器、 3為被測反射器、5為觀察角α、6為測試距離D、7為受光器移動方向、8為圓心距R ；附圖3，是本專利技術反射器光度測試的光路系統示意圖，其中:1為光源、2為受光器、3為被測反射器、4為半透半反鏡、5為觀察角a、6為測試距離D、7為受光器移動方向、8為圓心距R。具體實施例方式為了更好的實施和理解本專利技術，結合附圖進一步描述，見附圖3，本專利技術對反射器光度測試的光路系統是將光源I與受光器2分開設置，其光源I水平方向的照射光與半透半反鏡4的法線成45°入射，可產生兩路光，一路為透射光透過去損失掉；另一路為反射光A垂直向下照射到被測反射器3上為0°入射光，反射器產生的垂直向上反向180°的逆反射光與半透半反鏡4的法線成45°入射，也產生兩路光，其中一路為水平方向的反射光，反射到光源I損失掉，另一路為透射光B垂直向上，其光軸為0°線，也是觀察角α=0°的基準線。因光源I設置在新的位置上，故其受光器2的孔經中心O2已不再受光源I與受光器2最小孔徑距&與r2的限制，其O2可以通過受光器2移動到觀察角0°基準線上，見附圖3移動方向7，實現最小觀察角在0°接收。還可以實現觀察角全范圍α=0° 2°的光度測試。附圖1、2、3中的8為圓心距，是光源I與受光器2圓心的距離。半透半反鏡4應選用CBP-A-VIS-T50-1F03型號為最佳實施例，以保證新光路系統的實現。本專利技術所指的被測反射器3是指塑料光學反射器。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種反射器光度測試的光路系統，它包括，光源、受光器、半透半反鏡，其特征在于：把光源與受光器分開設置，光源水平方向的光與半透半反鏡的法線成45°入射，產生垂直向下的反射光，其反射光作為被測反射器的0°入射光，經被測反射器的反射產生反向180°垂直向上的逆反射光透射過半透半反鏡，其逆反射光的光軸為0°線，也是觀察角0°的基準線。

【技術特征摘要】
1.一種反射器光度測試的光路系統，它包括，光源、受光器、半透半反鏡，其特征在于:把光源與受光器分開設置，光源水平方向的光與半透半反鏡的法線成45°入射，產生垂直向下的...

【專利技術屬性】
技術研發人員：孫體生，王文彩，
申請(專利權)人：孫體生，王文彩，
類型：發明
國別省市：