【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及微波、毫米波技術。
技術介紹
采用各種算法輔助確定器件參數在現有技術中有廣泛的應用，例如中國專利CN200810150928.2，授權公告號CN101546347B，專利技術名稱“矩形波導低通濾波器的參數確定方法”。當今，人們對電子器件的工作頻率越來越高。從低頻、高頻到微波毫米波，再到如今研究得如火如荼的太赫茲，器件的尺寸則是越來越高。一方面，這滿足了當前對器件小型化、電路集成化的要求。而另一方面，小尺寸無疑增加了器件的加工難度。雖然微細加工技術日趨成熟，能滿足大部分小型化器件的加工要求。但是加工成品的尺寸往往與預期的尺寸有著偏差，而且這些偏差必然會對器件的性能有著不同程度的影響。那么如何度量影響的程度成了必須解決的問題。容差分析方法很好地解決了這一問題。容差分析卻有著不同方法，比如階矩法和最壞容差分析法。兩者都需要性能指標與各參數之間的數學解析關系。階矩法得到解析式是為了得到性能指標的均值和方差，從而給出偏差范圍。最壞容差分析法得到解析式是為了各參數對性能指標的靈敏度，從而確定出重要的靈敏參數。但是就基片集成波導環形器(Substrate IntegratedffaveguideCirculator簡稱SIW環形器)而言，其結構相對復雜——構成該器件的結構有基片集成波導，微帶線，鐵氧體。因此，難以得到性能指標與各參數之間數學解析關系。
技術實現思路
本專利技術所要解決的技術問題是，提供一種，能夠降低環形器的加工成本，加快測試周期。本專利技術解決所述技術問題采用的技術方案是，，其特征在于，包括下述步驟:步驟一、確定一個工作于Ka波段的尺寸為8X...
【技術保護點】
8毫米基片集成波導環形器參數確定方法，其特征在于，包括下述步驟：步驟一：確定一個工作于Ka波段的尺寸為8×8平方毫米的SIW環形器，滿足以下指標要求：中心頻率35.5GHz~36GHz，插入損耗?0.3dB以下，各端口回波損耗在?23dB以下的帶寬大于2GHz，三個端口阻抗均為50歐姆；步驟二：以步驟一中的環形器的尺寸參數為中心值，圍繞中心值在一定范圍內對部分參數做單一變量的改變，并進行仿真；步驟三：以中心頻率、插入損耗、回波損耗在?23dB以下的帶寬為目標函數，得到步驟二中單一變量改動的情況下，各目標函數的變化情況；步驟四：利用數理統計方法，計算各尺寸參數在變化范圍內的標準差σ(x)，以及所對應的各目標函數的標準差σ(f)；步驟五：在歸一化增量靈敏度公式中：分別以標準差σ(f)、σ(x)代替增量Δf、Δx，對步驟四中的各目標函數進行靈敏度分析，得到各尺寸參數對目標函數的歸一化靈敏度;步驟六：利用最環容差分析方法，結合目標函數的歸一化靈敏度，得出尺寸的可接受偏差。FDA00002692482600011.jpg
【技術特征摘要】
2012.09.12 CN 201210337306.71.8毫米基片集成波導環形器參數確定方法，其特征在于，包括下述步驟:步驟一:確定一個工作于Ka波段的尺寸為8X8平方毫米的SIW環形器，滿足以下指標要求:中心頻率35.5GHz 36GHz，插入損耗-0.3dB以下，各端口回波損耗在_23dB以下的帶寬大于2GHz，三個端口阻抗均為50歐姆；步驟二:以步驟一中的環形器的尺寸參數為中心值，圍繞中心值在一定范圍內對部分參數做單一變量的改變，并進行仿真；步驟三:以中心頻率、插入損耗、回波損耗在_23dB以下的帶寬為目標函數，得到步驟二中單一變量改動的情況下，各目標函數的變化情況；步驟四:利用數理統計方法，計算各尺寸參數在變化范圍內的標準差σ (X)，以及所對應的各目標函數的標準差σ (f)； 步驟五:在歸一化增量靈敏度公式中:2.如權利要求1所述的8毫米基片集成波導環形器參數確定...
【專利技術屬性】
技術研發人員：陳良，付強，汪曉光，鄧龍江，何璐，梁迪飛，
申請(專利權)人：電子科技大學，
類型：發明
國別省市：
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