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    一種碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法技術

    技術編號:8684005 閱讀:225 留言:0更新日期:2013-05-09 03:53
    一種碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法,屬于微電子工藝技術領域。本發明專利技術提供了一種簡單、高效的碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法。該方法利用碳納米管陣列作為散熱結構,通過在碳納米管陣列自由端沉積金屬浸潤層以及制作焊錫層,再將碳納米管從生長基板上剝離,形成散熱結構體;然后將散熱結構體的焊錫層與電子器件上的金屬浸潤層進行接觸加熱焊接,實現碳納米管散熱結構與電子器件的集成。本發明專利技術能夠使一個性能良好的碳納米管散熱結構體直接集成于電子器件上,克服了其他碳納米管散熱結構集成方法中工藝復雜,效率低下的技術問題。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術屬于微電子工藝
    ,涉及碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法
    技術介紹
    隨著微電子工藝的發展,微電子器件的集成度越來越高,導致器件內部的功率密度也越來越大。極大的功率密度使得器件的散熱成為了一個亟待解決的問題,因此對器件散熱的新結構新工藝的需要越來越迫切。碳納米管具有很高的熱導率(>1000W/mK),是一種很好的散熱材料;因此在微電子器件散熱裝置中具有廣闊的應用前景。在微電子工藝中,焊接是一種常見的結構連接方法,但是由于碳納米管本身的化學性質,很難直接將碳納米管直接與器件相連。目前已提出的解決方法是在碳納米管本身的制備過程中調節工藝參數,使碳納米管自由端頂部成為開口狀結構來提高碳納米管和焊錫之間的浸潤性。同時在焊接過程中,需要將帶有生長基板的整片碳納米管與器件采用回流焊方法進行焊接,然后分離碳納米管與基板,這樣就增加了工藝的復雜程度,降低了生產效率。
    技術實現思路
    本專利技術提供,該方法通過在碳納米管陣列自由端沉積金屬浸潤層,然后在該浸潤層上形成焊錫層,再將碳納米管陣列從生長基片剝離形成散熱結構體,最后直接與電子器件上的金屬浸潤層進行焊接,實現碳納米管散熱結構與電子器件的集成。本專利技術具體技術方案是:,如圖1所示,包括以下步驟:步驟1:沉積金屬浸潤層。采用濺射或蒸發的方法分別在碳納米管陣列自由端和電子器件上需要集成散熱結構的位置沉積一層I 10微米厚的金屬,作為浸潤層。步驟2:制作焊錫層。將焊錫條鋪于碳納米管陣列自由端沉積好的金屬浸潤層上方,在230 300°C下加熱I 2分鐘,待焊錫熔化并覆蓋整個金屬浸潤層后,冷卻至室溫,形成焊錫層。步驟3:形成散熱結構體。固定碳納米管陣列的生長基板,沿碳納米管陣列表面焊錫層向上施加拉力,使得碳納米管陣列與其自身的生長基板分離,形成單獨的碳納米管散熱結構。步驟4:集成散熱裝置。將碳納米管散熱結構的焊錫層與步驟I所得的電子器件上沉積好的金屬浸潤層相接觸,在230 350°C下加熱I 2分鐘,使得焊錫層與電子器件上的金屬浸潤層牢固結合;然后冷卻至室溫,實現碳納米管散熱結構與電子器件的集成。上述方案中,步驟I所述金屬為N1、Cr ;步驟2所述的焊錫條為Sn60/Pb40錫鉛合金條。本專利技術的有益效果是:本專利技術提供的碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法,采用金屬作為浸潤層,可以利用碳納米管與金屬之間,金屬與焊錫之間的較強結合力,使焊錫牢固地與碳納米管陣列連接,以便碳納米管散熱結構能夠與電子器件直接焊接,無需對碳納米管本身的形態做特定的要求。同時步驟3所獲得的單獨的碳納米管散熱結構,可以由大面積的碳納米管陣列制備出大面積散熱結構體后,利用機械切割的手段得到不同大小或形狀的小散熱結構體,克服了傳統方法需要制備與器件尺寸一致的碳納米管陣列的缺點,簡化了工藝,也可以提高生產效率;采用條狀焊錫通過直接加熱擴散的方法形成焊錫層也可以避免使用回流焊工藝帶來的工藝復雜化問題。附圖說明圖1為本專利技術流程示意圖。圖2為本專利技術制備的散熱結構散熱效果測試數據圖。具體實施例方式下面結合具體實施例對本專利技術作進一步說明,但本專利技術并不限于以下實施例。,包括以下步驟:1.將8mmX8mm的帶有定向碳納米管陣列的二氧化娃片以及待集成的具有Au薄膜加熱絲的硅片放入射頻磁控濺射設備,在Ar氣氣壓0.5Pa,功率100W的工藝條件下,使用Ni金屬靶濺射60分鐘,從而在碳納米管自由端頂部及具有Au薄膜加熱絲的硅片背部沉積厚度約為5微米的Ni金屬浸潤層。2.將帶有定向碳納米管陣列的二氧化硅片放置于熱臺,列取三條8mm長的Sb60/Pb40焊錫條,平鋪在碳納米管陣列的金屬浸潤層上。設定熱臺溫度為250°C,待熱臺達到設定溫度后等待約兩分鐘,焊錫即融化并流動至整個金屬浸潤層表面,此時停止熱臺加熱,自然冷卻。3.冷卻至室溫以后,利用鑷子從邊緣施加一向上拉力,整片碳納米管陣列即可與生長基板分尚。4.將已沉積金屬浸潤層的具有Au薄膜加熱絲的硅片放置于熱臺上。將碳納米管陣列焊錫層面朝下放置于硅片的金屬浸潤層上,設定熱臺溫度為250°C,待熱臺達到設定溫度后等待兩分鐘,停止熱臺加熱,自然冷卻,碳納米管散熱結構體即可與硅片實現集成。5.散熱效果的測定利用Agilent B2901A精密源表在硅片的薄膜加熱絲上通入一定功率的電流,同時利用標準四線法測定該加熱絲的電阻。由于Au的溫度系數已知,故可通過電阻的變化計算出加熱絲溫度的變化。圖2 (a)為沒有集成散熱結構的加熱絲溫升圖,圖2 (b)所示為具有散熱結構的加熱絲溫升圖,由此表明碳納米管散熱結構與電子器件的集成可以有效降低加熱絲通電帶來的溫度上升。本領域技術人員應當知道,上述實施例主要說明本專利技術技術方案的有效性和可實施性,從而驗證本專利技術的效果,其中具有Au薄膜加熱絲的硅片并非是對電子器件的進一步限定。本領域技術人員根據現有技術和本領域公知常識,選用其他的金屬材料或薄膜制備技術制備金屬浸潤層,或選用其他組分的焊錫材料,都能實現散熱結構與電子器件的集成。本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法,包括以下步驟:步驟1:沉積金屬浸潤層;采用濺射或蒸發的方法分別在碳納米管陣列自由端和電子器件上需要集成散熱結構的位置沉積一層1~10微米厚的金屬,作為浸潤層;步驟2:制作焊錫層;將焊錫條鋪于碳納米管陣列自由端沉積好的金屬浸潤層上方,在230~300℃下加熱1~2分鐘,待焊錫熔化并覆蓋整個金屬浸潤層后,冷卻至室溫,形成焊錫層;步驟3:形成散熱結構;固定碳納米管陣列的生長基板,沿碳納米管陣列表面焊錫層向上施加拉力,使得碳納米管陣列與其自身的生長基板分離,形成單獨的碳納米管散熱結構;步驟4:集成散熱裝置;將碳納米管散熱結構的焊錫層與步驟1所得的電子器件上沉積好的金屬浸潤層相接觸,在230~350℃下加熱1~2分鐘,使得焊錫層與電子器件上的金屬浸潤層牢固結合;然后冷卻至室溫,實現碳納米管散熱結構與電子器件的集成。

    【技術特征摘要】
    1.一種碳納米管散熱結構與電子器件的集成方法,包括以下步驟: 步驟1:沉積金屬浸潤層; 采用濺射或蒸發的方法分別在碳納米管陣列自由端和電子器件上需要集成散熱結構的位置沉積一層I 10微米厚的金屬,作為浸潤層; 步驟2:制作焊錫層; 將焊錫條鋪于碳納米管陣列自由端沉積好的金屬浸潤層上方,在230 300°C下加熱I 2分鐘,待焊錫熔化并覆蓋整個金屬浸潤層后,冷卻至室溫,形成焊錫層; 步驟3:形成散熱結構; 固定碳納米管陣列的生長基板,沿碳納米管陣列表面焊錫層向上施加拉力,使得碳納米管陣列與其自身...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:林媛潘泰松黃振龍曾波高敏
    申請(專利權)人:電子科技大學
    類型:發明
    國別省市:

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