【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及衍射光學元件和使用衍射光學元件的計測裝置。
技術介紹
對入射光的至少一部分進行衍射的衍射光學元件用于各種光學儀器和光學裝置等。作為使用衍射光學元件的光學裝置的例子,想到將由衍射光學元件衍射出的特定的光的圖案投影到計測對象上并對計測對象的形狀等進行計測的計測裝置。這種計測裝置中,已知作為對計測對象的三維形狀等進行計測的計測裝置而列舉的三維計測裝置通過檢測所照射的光的圖案的變化等而獲得三維的信息(專利文獻I)。另外,這種計測裝置如果在計測裝置與測定對象之間的距離短的情況下也能夠進行預定的計測,則能夠使測定光學系統小型化,并且能夠縮短到達受光系統的光程長度,因此能夠獲得高計測靈敏度。因此,在這種計測裝置中使用衍射光學元件的情況下,優選衍射角度大。但是,如果想要通過縮窄衍射光學元件的間距來產生衍射角度大的衍射光,則會產生零級衍射光。并且,當由衍射光產生的光斑數多時,零級衍射光的光量也會達到與其他衍射光的光量相比相對較大的值。這種情況下,會出現如下問題:計測裝置中使用的攝像元件中自動增益調節設定得較低,從而無法識別由與零級衍射光相比相對較弱的其他衍射光產生的光斑;或者即使在將增益調節至較高的情況下,由零級衍射光產生的光斑的周圍也會產生模糊等,從而無法在由零級衍射光產生的光斑的周圍識別由其他衍射光產生的光斑。因此,在例如應用于三維計測裝置的情況下,難以進行精度高的三維形狀的測定。作為用于抑制這種零級衍射光的產生的構成,例如已知如專利文獻2中所公開的那樣將多個衍射光學元件進行層疊的構成等。另外,非專利文獻I中,公開了通過調節形成在衍射光學元件的表面上的凹 ...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2010.08.06 JP 2010-1779441.種衍射光學元件,具有凹凸且對入射光進行二維衍射而產生衍射光,其特征在于, 將以所述入射光的光軸為基準的最大衍射角設為角度范圍Θ時,所述角度范圍Θ為7.5°以上,且零級衍射光的衍射效率為5%以下。2.權利要求1所述的衍射光學元件,其特征在于,所述凹凸為2階。3.權利要求1所述的衍射光學元件,其特征在于,所述凹凸為3階以上。4.權利要求3所述的衍射光學元件,其特征在于,所述凹凸為2-階(m為2以上的整數)。5.權利要求2所述的衍射光學元件,其特征在于, 所述凹凸中,將與所述凹凸的高度方向不同的預定軸方向上的凸部的長度和凹部的長度中在設所述光的波長為λ時落入λ/8至6 λ范圍內的所述凸部的長度的平均值和所述凹部的長度的平均值分別設為μ 1、μ 2時, 所述衍射角Θ和的值為7.5°〈 Θ〈90。,且0〈D〈0.5, 并且-0.02 Θ+0.6〈D〈-0.00133 Θ+0.5233 (其中,7.5 ° 〈 Θ〈36.3 ° )或-0.02 Θ+0.6〈D〈0.475(其中,36.3。〈 Θ〈90。)。6.權利要求5所述的衍射光學元件,其特征在于, 所述衍射角Θ和D的值為7.5° < Θ <90°,且0〈D〈0...
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