一種基于形式概念分析的軟件回歸測試方法技術

本發明專利技術提供一種基于形式概念分析的軟件回歸測試方法，充分利用形式概念分析技術有效地進行回歸測試，能夠將測試用例的選擇、約減、以及排序等技術有效地結合起來，直接生成一種高質量、高效的軟件回歸測試用例集。該技術在實際應用中不受程序語言約束，可以應用于各種編程語言程序中，提高了該技術可應用的范圍。即測試用例選擇、約減以及排序，其所產生的測試用例集結果更加高效，可以直接進行回歸測試，使得軟件維護變得更加容易。

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
一種基于形式概念分析的軟件回歸測試方法，其特征在于該回歸測試方法具體如下：步驟1：根據原測試用例集以及修改后的程序元素，收集測試覆蓋情況；根據測試用例覆蓋信息構造二維表，表中行表示測試用例運行情況，列表示程序元素，某個列的程序元素被某一行的測試用例覆蓋，我們就對其進行標記，再以該二維表為輸入，利用形式概念分析技術構造概念格；形式概念分析建立在數學基礎之上，對組成概念的對象、屬性以及關系等用形式化的語境表述出來，然后根據語境，利用概念格的生成算法自動構造出概念格；概念格上的節點表示概念，而一個概念是由外延和內涵組成，分別表示某個節點的測試用例和程序元素；步驟2：進行修改分析，計算得到修改集CS和影響集IS，這兩者的并集為CI=CS∪IS；然后在概念格上找出概念格節點內涵中包含CI中元素的概念節點，然后把這些概念節點中包含的測試用例選擇出來，假設為T’，即為測試用例選擇過程的結果；步驟3：進行測試用例的約減，對于測試用例集T’中任意測試用例t1,t2∈T’，如果在概念格上，t1是t2的下確界，即t1所標記的概念格節點層次低于t2，則選擇t1,將t2從T’中刪除，最終得到T’’；另外，如果T’’中有多個測試用例由同一概念節點標記，由于這些測試用例都具有相同的覆蓋特征，因此只需選擇其中一個測試用例就可，這一步結束之后就產生了新的約減后的測試用例集T’’；步驟4：對T’’進行測試用例排序，根據測試用例包含的CI元素的個數進行排序，稱這樣的排序度量方法為測試用例的包含度Inclusiveness={|e||e∈Int(t)∧t∈T’’∧e∈CI}，其中，Int(t)表示測試用例t所標記的概念格元素的內涵，計算T’’中的每一個測試用例的包含度Inclusiveness，然后測試用例的排序就是根據包含度Inclusiveness結果進行排序這一步結束之后就得到排序后的測試用例集LT’’；到這里，整個回歸測試過程結束，其輸出是一個排序后的測試用例集LT’’，它將測試用例的選擇、約減以及排序整合到一起。...

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：孫小兵，
申請(專利權)人：揚州大學，
類型：發明
國別省市：