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本發明提供一種植物根系三維構型無損檢測方法，探地雷達天線在植物根系表面實時探測，該方法還包括如下步驟：獲取任意時刻探地雷達天線的三維位置與姿態信息；獲得任意時刻探地雷達發射電磁波譜的三維空間信息；對電磁波譜進行數值信息和圖像信息的雙模式處理...
該專利屬于中國科學院成都生物研究所所有，僅供學習研究參考，未經過中國科學院成都生物研究所授權不得商用。

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