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一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)高爐料面變化的雷達(dá)掃描裝置，將其設(shè)置在合適的位置保證了料面成像的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性，將雷達(dá)天線深入高爐內(nèi)部，通過機(jī)械設(shè)計(jì)傳動(dòng)裝置控制天線的轉(zhuǎn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)在選定位置，通過最優(yōu)視角范圍和最優(yōu)測(cè)距范圍的考慮，實(shí)現(xiàn)對(duì)高爐半個(gè)料面的掃描。...該專利屬于北京科技大學(xué);北京首鋼股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過北京科技大學(xué);北京首鋼股份有限公司授權(quán)不得商用。