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本發(fā)明涉及利用查找表移位寄存器進(jìn)行SRAM型FPGA刷新效果驗(yàn)證的方法，包括步驟(1)、在FPGA中構(gòu)建由查找表構(gòu)成的移位寄存器組，并為移位寄存器組設(shè)置初始值；(2)、完成FPGA的上電配置，向移位寄存器組輸入串行數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)移位寄存器組進(jìn)行移...該專利屬于北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所授權(quán)不得商用。