溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
一種基于光干涉的位移測量方法，涉及一種位移測量方法，該方法是利用光學諧振腔對波長選擇性透過的特性，通過對透射光波長的分析得到腔長，當腔長變化時，透射波長隨之產(chǎn)生變化，光電接收裝置檢測并分析透射波長得出腔長變化量，通過腔長變化量計算出被測物位...該專利屬于廣西科技大學鹿山學院所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過廣西科技大學鹿山學院授權不得商用。
溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
一種基于光干涉的位移測量方法，涉及一種位移測量方法，該方法是利用光學諧振腔對波長選擇性透過的特性，通過對透射光波長的分析得到腔長，當腔長變化時，透射波長隨之產(chǎn)生變化，光電接收裝置檢測并分析透射波長得出腔長變化量，通過腔長變化量計算出被測物位...