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本發(fā)明涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的手機(jī)外殼缺陷檢測(cè)方法，該方法包括如下步驟：(1)獲取待檢測(cè)手機(jī)外殼圖像并進(jìn)行預(yù)處理；(2)將預(yù)處理后的圖像輸入至預(yù)先訓(xùn)練好的缺陷檢測(cè)模型進(jìn)行缺陷檢測(cè)得到手機(jī)外殼上存在缺陷的位置，并給出該位置為缺陷的置信度；其中，...該專利屬于同濟(jì)大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過同濟(jì)大學(xué)授權(quán)不得商用。