溫馨提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。
本申請(qǐng)涉及一種錐束計(jì)算機(jī)斷層成像圖像校正方法和系統(tǒng)。所述方法包括：在第一條件下獲取背景投影圖像和校正模體投影圖像，根據(jù)背景投影圖像和校正模體投影圖像獲取多能曲線，根據(jù)多能曲線獲取單能曲線，根據(jù)多能曲線和單能曲線，校正第二條件下所獲取的待校正...該專利屬于廣州華端科技有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)廣州華端科技有限公司授權(quán)不得商用。