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本發(fā)明涉及熱輻射性能測量技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的一種熱輻射性能原位檢測系統(tǒng)，包括光源模塊、光源標定模塊、控制模塊、樣品室以及數(shù)據(jù)處理模塊；光源模塊，提供待測樣品進行輻照實驗與熱輻射性能檢測所需的光源；光源標定模塊，用于待測樣品與參考標準在同等條件下的熱...該專利屬于上海衛(wèi)星裝備研究所所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過上海衛(wèi)星裝備研究所授權(quán)不得商用。