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基于電容的探針接觸檢測。描述了用于檢測探針在表面上的接觸的技術。一種用于檢測探針尖端在表面上的納米級接觸的計算機實現的方法包括將探針尖端定位在相對于樣品表面的第一位移處，該樣品表面暴露一個或多個納米結構。該方法可以包括使探針尖端朝向樣品表面...
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