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本申請?zhí)峁┝艘环N用于存儲器的性能預(yù)測方法、裝置、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)，方法包括：以工藝參數(shù)集中的至少部分工藝參數(shù)作為向量元素生成第一向量；將第一向量輸入第一預(yù)測模型，獲得存儲器的性能指標(biāo)的第一預(yù)測值；根據(jù)第一預(yù)測模型中系數(shù)為零的輸入變量，將第...該專利屬于蘇州寬溫電子科技有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過蘇州寬溫電子科技有限公司授權(quán)不得商用。