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本發明提供了一種測試晶圓的方法以及用于該方法的探針卡，所述方法在使用探針卡測試晶圓期間能夠使得探針卡的不對稱熱變形最小化并且使得測試次數最小化以有效地測試大面積的晶圓。對于使用探針卡測試晶圓上的半導體芯片的晶圓測試方法來說，所述方法包括生成...
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