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本發明屬于光電檢測技術領域，公開了一種紅外熱像儀低溫測溫的輻射定標方法，可延拓目前紅外熱像儀的低溫測溫范圍至-100℃，并將測溫精度提高到1℃以內。為提高低溫輻射定標的精度，本發明在真空、低溫環境下進行輻射定標數據采集。在真空、低溫環境中通...該專利屬于北京理工大學;北京衛星環境工程研究所所有，僅供學習研究參考，未經過北京理工大學;北京衛星環境工程研究所授權不得商用。
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本發明屬于光電檢測技術領域，公開了一種紅外熱像儀低溫測溫的輻射定標方法，可延拓目前紅外熱像儀的低溫測溫范圍至-100℃，并將測溫精度提高到1℃以內。為提高低溫輻射定標的精度，本發明在真空、低溫環境下進行輻射定標數據采集。在真空、低溫環境中通...