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一種基于數學形態學的量子點檢測方法，包括如下步驟：步驟1：對原始量子點圖像做預處理，增強圖像對比度；步驟2：利用帶標記的分水嶺分割方法對量子點圖像進行初步分割，使每個量子點劃分到不同的區域；步驟3：將量子點從各自區域中提取出來；步驟4：對提...
該專利屬于中國科學院半導體研究所所有，僅供學習研究參考，未經過中國科學院半導體研究所授權不得商用。

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