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本發(fā)明涉及一種基于激光干涉對科學(xué)級CCD的線性度指標進行標定的方法。該述方法包括以下步驟：1)獲取已知光場強度分布的干涉光場并將其入射至科學(xué)級CCD；2)科學(xué)級CCD接收來自步驟1)的已知光場強度分布的干涉光場后輸出干涉光場所對應(yīng)的含有干涉...該專利屬于中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所授權(quán)不得商用。