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本發明公開了一種采用自比量尺的測驗系統及其方法，該系統包括用于產生具有題目、量尺及位于該量尺上的多個卷標的測驗試題的試題模塊，使該多個卷標于該量尺上移動，并依據該題目將各該卷標移動至該量尺上對應的位置的作答模塊，以及記錄各該卷標所對應的位置...
該專利屬于宋曜廷所有，僅供學習研究參考，未經過宋曜廷授權不得商用。

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