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本發明公開了一種微小位移放大方法，包括聚焦光源、形變物體、透鏡和角度測量儀，利用測量形變物體對透鏡產生位移，透鏡角度的變換使得穿過透鏡的光線折射角度發生變換，通過角度的變化來測量形變的微小位移。本發明通過測角度的方式實現測距，從而測量物體形...該專利屬于昆山北極光電子科技有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過昆山北極光電子科技有限公司授權不得商用。
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