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本發明提供了一種高溫材料發射率測量方法和系統，其中所述系統包括大功率輻射源、擴束整形均束裝置、真空倉、樣品測試平臺、旋轉反射鏡、顯微成像裝置、光譜切換裝置、輻射能量成像測量裝置、溫度測量裝置。本發明通過在被測樣品上加工出黑體空腔，并用成像方...
該專利屬于北京振興計量測試研究所所有，僅供學習研究參考，未經過北京振興計量測試研究所授權不得商用。

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