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本發(fā)明涉及一種衛(wèi)星尾區(qū)表面帶電模擬試驗(yàn)系統(tǒng)及方法，屬于測試領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括：中低能電子槍、三維傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、表面電位計(jì)、燈絲、等離子體診斷系統(tǒng)、考夫曼離子源、抽真空系統(tǒng)、真空室、PC機(jī)。所述方法包括：在真空室內(nèi)放入衛(wèi)星部件對真空室抽真空；打開...該專利屬于中國航天科技集團(tuán)公司第五研究院第五一〇研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中國航天科技集團(tuán)公司第五研究院第五一〇研究所授權(quán)不得商用。