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本發(fā)明涉及一種用于測(cè)量坐標(biāo)測(cè)量裝置上的工件的坐標(biāo)的方法，該坐標(biāo)測(cè)量裝置具有探頭(4)，探頭包括探針(3)和與探針關(guān)聯(lián)的探測(cè)傳感器(7)，當(dāng)探針接觸工件時(shí)探測(cè)傳感器產(chǎn)生探測(cè)信號(hào)(23)，通過(guò)該探測(cè)信號(hào)確定了表示探頭在接觸工件時(shí)的位置的尺寸值，...該專(zhuān)利屬于卡爾蔡司工業(yè)測(cè)量技術(shù)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)卡爾蔡司工業(yè)測(cè)量技術(shù)有限公司授權(quán)不得商用。