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本發明公開了一種用于電子產品的高加速壽命試驗系統，包括一密閉室和若干待測電子產品，一振動應力測試系統，包括一設置于該密閉室內的振動臺，該振動臺上固定一安裝有該待測電子產品的測試夾具，并在每個待測電子產品內部的印刷電路板上布置有若干個振動應力...
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