溫馨提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。
一種基于數(shù)字全息的晶體光學(xué)參數(shù)測量方法，方法是記錄晶體的數(shù)字全息圖，通過數(shù)字再現(xiàn)得到晶體的波前復(fù)振幅。由相位信息得到晶體的折射率分布，由強(qiáng)度信息得到晶體的透過率。對(duì)電光晶體加載電壓，記錄不同電壓下的晶體數(shù)字全息圖，數(shù)字再現(xiàn)、相位解包裹，得到...該專利屬于天津大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過天津大學(xué)授權(quán)不得商用。