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本實用新型提供一種測量土壤表面粗糙度的系統(tǒng)，包括：支架；水平基準(zhǔn)面板，用于覆蓋所述樣方土；結(jié)構(gòu)光投射-圖像采集部件，位于支架上，用于采集樣方土上的目標(biāo)采樣點以及水平基準(zhǔn)面板上與目標(biāo)采樣點相應(yīng)點的坐標(biāo)參數(shù)信息，并將上述坐標(biāo)參數(shù)信息傳輸?shù)街醒胩?..該專利屬于中國農(nóng)業(yè)科學(xué)院農(nóng)業(yè)資源與農(nóng)業(yè)區(qū)劃研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中國農(nóng)業(yè)科學(xué)院農(nóng)業(yè)資源與農(nóng)業(yè)區(qū)劃研究所授權(quán)不得商用。