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一種覆膜機(jī)及覆膜方法，其用以對(duì)基板進(jìn)行覆膜，其特征在于：覆膜機(jī)包含一光學(xué)檢測器，在對(duì)基板進(jìn)行覆膜之前與后，分別由光學(xué)檢測器檢測基板上的微粒及經(jīng)覆膜后的基板上的氣泡。利用光學(xué)檢測器來檢測基板在覆膜前的落塵附著在基板的情況，以及檢測基板在覆膜后...該專利屬于瑞世達(dá)科技(廈門)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過瑞世達(dá)科技(廈門)有限公司授權(quán)不得商用。