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描述了一種利用根據(jù)測量裝置中傳播時間原理工作的料位測量設(shè)備(3)來測量容器(1)中的填充物質(zhì)的料位(L)的方法，其中，在空容器(1)的情況中，發(fā)射到容器(1)中的微波信號(T)的至少一部分經(jīng)由在容器(1)的底部上的反射而反射回料位測量設(shè)備(...該專利屬于恩德萊斯和豪瑟爾兩合公司所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過恩德萊斯和豪瑟爾兩合公司授權(quán)不得商用。