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本發明公開了一種衰減全反射光學測量平臺，涉及光學測量技術，包括底座、轉動臂、固定臂、測試部件等；測試部件為光波導測試裝置或光波導生化傳感器測試裝置或棱鏡全反射測試裝置。固定臂與固定圓盤成一整體，轉動臂與固定圓盤同軸轉動連接，轉動臂通過緊固螺...
該專利屬于中國科學院電子學研究所所有，僅供學習研究參考，未經過中國科學院電子學研究所授權不得商用。

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