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探針呈矩陣分布的金屬面壁厚檢測儀，包括探針組、采集器、補償試塊、檢測電路及激勵信號電極，探針組由多個呈矩陣分布的探針構成，補償試塊設置在被測管道的表面，其一端與被測管道緊密連接，用于腐蝕試片的溫度補償；探針通過連接器與采集器連接；所述采集器...該專利屬于沈陽中科韋爾腐蝕控制技術有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過沈陽中科韋爾腐蝕控制技術有限公司授權不得商用。
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探針呈矩陣分布的金屬面壁厚檢測儀，包括探針組、采集器、補償試塊、檢測電路及激勵信號電極，探針組由多個呈矩陣分布的探針構成，補償試塊設置在被測管道的表面，其一端與被測管道緊密連接，用于腐蝕試片的溫度補償；探針通過連接器與采集器連接；所述采集器...