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本發(fā)明公開一種外場誘導(dǎo)下的非線性光學(xué)測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)由激光光源、前置光路處理模塊、功能樣品室、后置光路處理模塊、探測模塊、外場控制裝置、數(shù)據(jù)采集裝置、顯示處理裝置、暗盒等部分組成。該測試系統(tǒng)可進行溫度、電場、磁場或力場等不同的外場加載，實現(xiàn)...該專利屬于中國科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中國科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所授權(quán)不得商用。