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本發明提供一種標簽檢測系統、裝置及其檢測標簽的方法，通過對待測電路板圖像進行圖像處理，得到待測電路板圖像的二值圖，參照樣板標簽的二值圖掃描該待測電路板圖像獲取與該樣板標簽大小相同的區域，對每一區域與樣板標簽進行歸一化相關系數匹配，得到待測電...該專利屬于鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司授權不得商用。