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    日本電產理德株式會社專利技術

    日本電產理德株式會社共有48項專利

    • 本發明提供一種不損害在抵接于檢測對象的連接點時的彈簧特性、且能夠有效地抑制在安裝于連接夾具時的探針的預壓的反作用力的探針。本發明提供一種為了與設置在檢測對象上的連接點進行電連接的、用于連接夾具中的探針,其特征在于具備:外側導體,其具有導...
    • 檢查用夾具
      本發明所要解決的問題為:提供一種檢查用夾具,其防止內置于基板的電子部件因過電壓而被破壞。為解決上述問題,本發明提供一種用于將對形成在內置有電子部件的部件內置型基板上的布線進行電檢查的基板檢查裝置與所述部件內置型基板電連接的檢查用夾具,其...
    • 本發明提供一種能夠判別內置在部件內置基板中的電子部件的端子的種類的基板內置電子部件的端子判別方法。針對內置在部件內置基板(7)中的電子部件(8)的多個端子(T1~T6)的全部的端子對的組合,在端子之間使電流在正反兩個供給方向上切換并改變...
    • 本發明提供一種部件內置基板的檢查方法,其可有效地消除檢查夾具內的布線之間的寄生電容等的影響、以及部件內置基板內的布線之間的靜電電容的影響,并可對部件內置基板內的檢查對象部進行準確的檢查。例如在將電容器(C1)設為關注檢查對象部的情況下,...
    • 本發明提供一種即使在檢查夾具上設置了大量的檢查銷的情況下,也能夠以廉價的結構并且高效率地進行檢查夾具與被檢查基板的對位的基板檢查裝置的對準方法。在根據第一夾具照相機(21)的拍攝圖像來取得與第一檢查夾具(13)的位置有關的夾具位置信息時...
    • 本發明提供一種探針,其不會損及抵接于檢查對象的連接點時的彈簧特性,并能夠有效地抑制安裝在連接夾具時的探針的預壓的反作用力。該探針(20)中,外側導體(22)具有導電性且具有大致筒狀的形態。內側導體(24)具有導電性且被插入到外側導體(2...
    • 本發明提供一種絕緣檢查裝置及其絕緣檢查方法,對形成在如觸摸面板的檢查物的表面的多根配線間進行絕緣檢查。為了進行配線間的絕緣檢查,施加兩個以上的不同頻率的電力,算出這些阻抗,根據這些阻抗算出配線間的絕緣狀態。
    • 本發明提供一種基板檢查夾具及其相關技術,其能夠減輕隨著變更作為檢查對象的被檢查基板的構成帶來的變更基板檢查夾具的構成的負擔。該基板檢查夾具(2)具備夾具主體(6)、電極單元(7)和檢查頭(8)。電極單元(7)具有大致矩陣狀地配置的多個電...
    • 本發明提供一種由一臺檢查裝置就能夠應對各種檢查要求的基板檢查裝置?;鍣z查裝置的檢查主體部具備:將被檢查基板從搬入側輸送至搬出側的輸送區域;以及配置有用于對被檢查基板進行規定檢查的檢查夾具的檢查區域,進而還具備:第一輸送裝置,其配置于輸...
    • 本發明提供一種電阻抗測量裝置,其在對構成三角形電路的第一至第三電阻抗元件中的第一電阻抗元件的電阻抗測量中,將在第二電阻抗元件與第三電阻抗元件之間流過的電流抑制為零,并能夠準確地測量出第一電阻抗元件的電阻抗。該電阻抗測量裝置具備運算放大器...
    • 本發明提供一種連接端子,其中,圓筒形狀部在基于電阻焊的固定前后維持大致圓形的形狀。在連接對象點間的連接夾具中使用的連接端子具備:小直徑的導電部;以及大直徑的圓筒形狀部,所述大直徑的圓筒形狀部被配置成圍繞上述小直徑的導電部;小直徑的導電部...
    • 本發明提供一種可以應對基板的微細化和復雜化、并在檢查時提供強的按壓力且在非檢查時提供弱的按壓力的微細的接觸器和檢查用夾具。一種將被檢查物的多個檢查點與在檢查用夾具的電極體上具備的并與檢查檢查點間的電特性的檢查裝置電連接的多個電極部電連接...
    • 本發明提供一種可以恰當地評價布線圖案的電阻值的偏差等并可以確定布線圖案的導通檢查的恰當的判定基準值的基板檢查裝置等。所述基板檢查裝置(1)針對由分別形成有多個布線圖案的多個單位基板相連而成的片狀基板執行與片狀基板內的單位基板的布線圖案的...
    • 本發明提供一種能夠應對基板的微細化及復雜化,并能夠減少零件數量以簡化,且具有充分的接觸壓與行程的微細探針及使用該探針的檢查用夾具。檢查用探針的特征在于,利用分別形成在具有不同外徑與內徑的兩支導電性的筒狀部件上的缺口部分別作為彈性部發揮作...
    • 本發明提供檢查用夾具以及觸頭。提供具有可應對基板的細小化及復雜化,并具備部件個數減低的簡單化構造的四端子測定用的觸頭的檢查用夾具。檢查用夾具特征在于具有:上方端壓接于電極部的導電性的筒形狀的第一筒體;從第一筒體的下方端開口部突出,以電連...
    • 本發明的課題在于制造各種各樣的形狀的檢查用探針,提高量產性,降低價格,并且容易地達成檢查用探針的直線度。在導電性的板狀部件的表面上形成第一抗蝕劑層,所述第一抗蝕劑層覆蓋與多個檢查用探針、連結多個檢查用探針的框架、以及形成在框架上并連接框...
    • 本發明提供一種檢查治具、電極構造及電極構造的制造方法,利用包含如筒狀接觸件及棒狀接觸件的構造的接觸件(同軸接觸件)時,適當地利用于此種接觸件,并達到電極部的結構的細微化及簡易化。探針(1)包含:第1接觸件(2),以導電材料形成大致筒形形...
    • 本發明提供不會降低檢查精度而縮短檢查時間提高檢查效率的基板檢查方法。在依次執行的各單位檢查工序(1~4)中,將互不相同的任意1個布線圖案(A~D)設定為正極側、其他的布線圖案(A~D)設定為負極側,對該正負的布線圖案(A~D)間賦予電位...
    • 本發明提供一種檢查用夾具,該檢查用夾具能夠應對基板的細小化及復雜化,并且具備部件個數減低的簡單化構造。檢查用夾具,其連接被檢查對象的檢查體和檢查裝置,其特征在于,觸頭具備:在兩端具有開口部的外側筒體和收容在外側筒體的內側且配置成從外側筒...
    • 本發明提供一種檢查用夾具及檢查用觸頭,該檢查用夾具具有能夠應對基板的細小化及復雜化,并且具備部件個數減低的簡單化構造的四端子測定用的觸頭。在將被檢查物和檢查裝置電氣連接的檢查用夾具中,具有:與上述檢查裝置電氣連接的電極部,一端壓接于檢查...
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