本發明涉及一種光纖位移傳感系統，主要解決現有技術中存在的環境適應性差、環境因素影響大、穩定性差的技術問題，本發明通過采用包括信號源、待測物體，與信號源連接的二等分功分器；二等分功分器第一輸出端連接直調激光器；直調激光器連接光纖位移傳感探...

本發明涉及一種基于超寬帶相位噪聲測試系統的信號分析方法，主要解決了當前相位噪聲測試系統精度低、誤差大，系統結構復雜、成本高，不易實現超寬帶測試和自適應測試的問題。其特征在于：所述系統包括調制控制模塊，與調制控制模塊相連接的光調制模塊，與...

本發明涉及一種二維碼解碼算法對比驗證系統，主要解決現有技術中存在的對比結果準確度低，操作復雜的技術問題，本發明通過采用包括掃碼槍，與掃碼槍連接的開關電路轉接裝置，ARM處理器及上位機，開關電路轉接裝置還與MIPI解碼裝置及FPGA芯片連...

一種先端絲錐磨床，屬于磨床技術領域，其包括底座、工作臺系統、立柱與磨頭系統，所述工作臺系統包括工作臺，所述工作臺連接第一滾珠絲杠副，所述第一滾珠絲杠副一端連接第一伺服電機，另一端固定連接在所述底座上，所述第一伺服電機也固定連接在所述底座...

本發明涉及一種基于壓力傳感器測試裝置的測試方法，主要解決當前手工生產的FPC壓力傳感器無法實現高效、精確、自動化測試的技術問題。本發明通過采用機械工具加電子數據處理的技術方案，能夠對FPC壓力傳感器測試結果進行實時顯示并對產品進行等級劃...

本發明涉及一種用于線性傳感器的測試方法，主要解決現有技術中存在的測試過程復雜，測試精度低的技術問題，本發明通過采用所述測試系統包括待測線性傳感器，AMP運放，與AMP運放連接的ADC轉換模塊，與所述ADC轉換模塊連接的FPGA，與FPG...

本發明涉及一種用于線性傳感器的測試系統，主要解決現有技術中存在的測試過程復雜，測試精度低的技術問題，本發明通過采用所述測試系統包括待測線性傳感器，AMP運放，與AMP運放連接的ADC轉換模塊，與所述ADC轉換模塊連接的FPGA，與FPG...

本發明涉及一種應用于IC測試的高低溫測試方法，主要解決了現有技術中存在的不能夠在不開啟高低溫箱時對單個異常的集成電路進行異常排查與修正，也不能夠徹底的將不能修正或測試完成的集成電路的電源斷開，進入靜默狀態的技術問題。所述測試裝置的工作方...

本發明涉及一種應用于IC測試的高低溫測試裝置，主要解決了現有技術中存在的不能夠在不開啟高低溫箱時對單個異常的集成電路進行異常排查與修正，也不能夠徹底的將不能修正或測試完成的集成電路的電源斷開，進入靜默狀態的技術問題。本發明通過包括上位機...

本發明涉及一種基于光譜干涉裝置的測量方法，主要解決現有技術中存在的測量精度不足的技術問題，本發明通過采用所述測量系統包括光源，與光源依次連接的擴束準直透鏡、起偏器、檢偏器、自聚焦透鏡、光譜儀及數據處理單元；待測雙折射晶體連接于所述起偏器...

本發明涉及一種基于光纖位移傳感系統的位移測量信號分析方法，主要解決現有技術中存在的環境適應性差、環境因素影響大、穩定性差的技術問題，本發明通過采用包括信號源、待測物體，與信號源連接的二等分功分器；二等分功分器第一輸出端連接直調激光器；直...

本發明涉及一種CMOS傳感器測試系統，主要解決現有技術中存在的不能夠自動測試多種光照條件下的圖像質量，不能對漏電現象進行測試的技術問題。本發明通過采用用于采集數據的數據采集裝置及與用于控制所述數據采集裝置統計測試總數量及各類不良數量的軟...

本發明涉及一種制作微波移相器的方法，主要解決現有技術中存在的相移精度低，相移量小的技術問題。本發明通過采用一種基于光電互轉裝置的微波移相器，包括用于輸出偏振光的窄線寬分布式反饋激光器；與窄線寬分布式反饋激光器依次連接保偏光纖耦合器，強度...

本發明涉及一種微波移相器，主要解決現有技術中存在的相移精度低，相移量小的技術問題。本發明通過采用一種微波移相器，包括用于輸出偏振光的窄線寬分布式反饋激光器；與窄線寬分布式反饋激光器依次連接保偏光纖耦合器，強度型光調制器，單模光纖耦合器，...

本發明提供一種書桌智能管理裝置的使用方法，解決了現有技術中不能實現對座椅的姿態及位置調節，不能實現對交流插座及USB接口的自動檢測及充電保護，不能調整室內溫度、濕度，無備用電源的技術問題。本書桌智能管理裝置具有多種設置模式，包括休息模式...

本發明提供一種書桌智能管理裝置，解決了現有技術中不能實現對座椅的姿態及位置調節，不能實現對交流插座及USB接口的自動檢測及充電保護，不能調整室內溫度、濕度，無備用電源的技術問題。本發明采用包括與ARM處理器連接的溫度控制模塊，濕度控制模...

本發明涉及一種橋梁檢測機器人，主要解決現有橋梁機器人存在檢測效率低、檢測位置不全面，而且不能自動精確避開障礙物的問題。本發明通過采用一種橋梁機器人，包括參數輸入單元、信號采集單元、控制器和執行單元，所述參數輸入單元為觸摸輸入屏，所述信號...

本發明提供一種微波光子溫度傳感系統，包括混頻器，與混頻器輸出端連接的信號處理及顯示模塊，與混頻器本振端連接的射頻信號產生模塊，與混頻器射頻輸入端連接的電光解調模塊以及與所述射頻信號產生模塊及電光解調模塊連接的光電調制模塊。本發明的微波光...

本發明涉及一種CMOS傳感器測試方法，主要解決現有技術中存在的不能夠自動測試多種光照條件下的圖像質量，不能對漏電現象進行測試的技術問題。本發明通過采用用于采集數據的數據采集裝置及與用于控制所述數據采集裝置統計測試總數量及各類不良數量的軟...

本發明公開了電氣測試裝置領域的一種能夠測試并實時反饋的IC電氣特性測試裝置。所述測試裝置包括MCU控制器，第一低壓差線性穩壓器模塊(LDO1)、第二低壓差線性穩壓器模塊(LDO2)、輸入保護電路、LCD顯示模塊、按鍵模塊、電源檔位電路模...