一種過零檢測電路制造技術

本實用新型專利技術公開了一種過零檢測電路，包括橋式整流電路，還包括：第一電容、第一電阻、二極管、三極管和光耦，所述三極管的基極與所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述三極管的射極通過所述第一電容與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述二極管的陽極和陰極分別與所述三極管的射極和所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述光耦的陽極通過所述第一電阻與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述光耦的陰極與所述三極管的集電極連接，所述光耦的集電極和射極分別與參考電壓和地連接，過零檢測輸出端與所述光耦的集電極連接。本過零檢測電路不僅可電路簡單，而且可以得到準確的過零檢測信號，從而作出過零判斷。（*該技術在2024年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】
—種過零檢測電路【
】本技術涉及一種過零檢測電路。【
技術介紹
】目前，往往采用專用的IC進行過零檢測，或者采用半波整流后進行過零檢測。前者應用成本較高，后者檢測的精度較差。【
技術實現思路
】為了克服現有技術的不足，本技術提供了一種過零檢測電路，以較簡單的電路實現較精確的過零檢測。一種過零檢測電路，包括橋式整流電路，還包括:第一電容、第一電阻、二極管、三極管和光耦，所述三極管的基極與所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述三極管的射極通過所述第一電容與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述二極管的陽極和陰極分別與所述三極管的射極和所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述光耦的陽極通過所述第一電阻與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述光耦的陰極與所述三極管的集電極連接，所述光耦的集電極和射極分別與參考電壓和地連接，過零檢測輸出端與所述光耦的集電極連接。在一個實施例中，還包括第二電阻，所述第二電阻跨接在所述橋式整流電路的第一輸出端和第二輸出端之間。在一個實施例中，還包括第二電容，所述第二電容跨接在所述參考電壓與地之間。在一個實施例中，還包括第三電阻，所述光耦的集電極通過所述第三電阻與所述參考電壓連接。在一個實施例中，還包括第四電阻、第五電阻和第三電容，所述第三電容跨接在所述橋式整流電路的第一輸入端和第二輸入端之間，所述橋式整流電路的第一輸入端通過所述第四電阻與交流電源的第一端連接，所述橋式整流電路的第二輸入端通過所述第五電阻與交流電源的第二端連接。本過零檢測電路不僅可電路簡單，而且可以得到準確的過零檢測信號，從而作出過零判斷?！尽靖綀D說明】】圖1是本技術一種實施例的過零檢測電路的電路示意圖；圖2是本技術另一種實施例的過零檢測電路的電路示意圖?！尽揪唧w實施方式】】以下對技術的較佳實施例作進一步詳細說明。如圖1所示，一種實施例的過零檢測電路，包括橋式整流電路、第一電容C26、第一電阻R56、二極管D16、三極管Q16和光耦U12，三極管的基極與橋式整流電路的第二輸出端DC-連接，三極管Q16的射極通過第一電容C26與橋式整流電路的第一輸出端DC+連接，二極管D16的陽極和陰極分別與所述三極管Q16的射極和所述橋式整流電路的第二輸出端DC-連接，所述光耦U12的陽極通過所述第一電阻R56與所述橋式整流電路的第一輸出端DC+連接，所述光耦U12的陰極與所述三極管Q16的集電極連接，所述光耦U12的集電極和射極分別與參考電壓VCC和地GND連接，過零檢測輸出端GPIO與所述光耦U12的集電極連接。實施例2如圖2所示，一種實施例的過零檢測電路還包括第二電阻R55、第二電容C28、第三電阻R57、第四電阻R58、第五電阻R59和第三電容C27。所述第二電阻R55跨接在所述橋式整流電路的第一輸出端DC+和第二輸出端DC-之間，所述第二電容C28跨接在所述參考電壓VCC與地GND之間，光耦U12的集電極通過所述第三電阻R57與所述參考電壓VCC連接，第三電容C27跨接在所述橋式整流電路的第一輸入端AN和第二輸入端AL之間，所述橋式整流電路的第一輸入端AN通過所述第四電阻R58與交流電源的第一端N連接，所述橋式整流電路的第二輸入端Al通過所述第五電阻R59與交流電源的第一端N連接。第四電阻R58、第五電阻R59和第三電容C27組成交流輸入濾波電路，對從交流電源的第一端N和第一端N輸出的交流電進行濾波，第一電容C26為儲能單元，二極管D16供第一電容C26形成充電回路，三極管Q16供第一電容C26形成放電回路。當橋式整流電路輸出正半周，從第一輸出端DC+輸出的電流一部分從第一電容C26和二極管D16回到第二輸出端DC-，另一部分通過第二電阻R55回到第二輸出端DC-，第一電容C26進行充電，而三極管Q16截止，光耦U12不工作，過零檢測輸出端GPIO檢測到高電平。當橋式整流電路即將進入負半周，第一電容C26開始放電，三極管Q16導通，光耦U12工作導通，光耦U12的集電極的電壓被拉低，過零檢測輸出端GPIO檢測到低電平。從而，過零檢測輸出端GPIO可以檢測到脈沖形式的過零信號。以上內容是結合具體的優選實施方式對本技術所作的進一步詳細說明，不能認定本技術的具體實施只局限于這些說明。對于本技術所屬
的普通技術人員來說，在不脫離本技術構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本技術由所提交的權利要求書確定的專利保護范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種過零檢測電路，包括橋式整流電路，其特征是，還包括：第一電容、第一電阻、二極管、三極管和光耦，所述三極管的基極與所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述三極管的射極通過所述第一電容與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述二極管的陽極和陰極分別與所述三極管的射極和所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述光耦的陽極通過所述第一電阻與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述光耦的陰極與所述三極管的集電極連接，所述光耦的集電極和射極分別與參考電壓和地連接，過零檢測輸出端與所述光耦的集電極連接。

【技術特征摘要】
1.一種過零檢測電路，包括橋式整流電路，其特征是，還包括:第一電容、第一電阻、二極管、三極管和光耦，所述三極管的基極與所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述三極管的射極通過所述第一電容與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述二極管的陽極和陰極分別與所述三極管的射極和所述橋式整流電路的第二輸出端連接，所述光耦的陽極通過所述第一電阻與所述橋式整流電路的第一輸出端連接，所述光耦的陰極與所述三極管的集電極連接，所述光耦的集電極和射極分別與參考電壓和地連接，過零檢測輸出端與所述光耦的集電極連接。2.如權利要求1所述的過零檢測電路，其特征是:還包括第二電阻，所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：許文龍，
申請(專利權)人：深圳市達科為醫療科技有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44