一種電子電離源制造技術

本發明專利技術提供了一種電子電離源，所述電離源包括電子源、推斥電極、離子透鏡；所述電子電離源進一步包括：第一筒狀部件，所述電子源設置在所述第一筒狀部件的側部；所述推斥電極設置在兩端開口的第一筒狀部件內；環形部件，所述環形部件設置在所述第一筒狀部件的一側，其中遠離所述第一筒狀部件的一側具有出口，所述環形部件的中空內部的沿著離子出射方向的內徑逐漸收縮；第二筒狀部件，所述第二筒狀部件設置在所述出口內；所述離子透鏡設置在所述第二筒狀部件一側的沿著離子出射方向上。本發明專利技術具有離子出射效率高等優點。

【技術實現步驟摘要】
一種電子電離源
本專利技術涉及質譜分析，特別涉及電子電離源。
技術介紹
氣相色譜-質譜聯用儀器是分析儀器領域的重要成員之一，混合的有機物分子經過氣相色譜柱分離后進入質譜，質譜使有機物分子離子化，并使各種離子在電場或磁場的作用下，按照質荷比大小進行分離，并檢測其相應的強度，得到的質譜信號能對物質進行定性鑒定和定量分析。氣象色譜-質譜聯用儀器的離子源主要是電子電離源(EI)，EI源由一個半封閉的離子盒和一組透鏡構成，從氣相色譜柱隨著載氣流出的化合物質進入一個半封閉的離子盒中，離子盒兩端放置有一種發熱能溢出電子的燈絲，電子進入離子盒中與化合物分子進行碰撞，通過能量轉移和電子轉移的使化合物的化學鍵發生裂解，從而產生化合物的碎片離子。碎片離子在一組施加了直流電壓的透鏡的作用下，傳輸進入四級桿質量分析器，由四級桿進行選擇，最終根據質量分析器過濾出的離子撞擊到檢測器上產生響應的質譜信號?；衔锓肿釉陔x子盒及其透鏡組內的傳輸效率是影響質譜靈敏度的最重要的因素，目前商品化的氣相色譜-質譜儀器的離子盒都是采用圓柱形的筒狀結構，離子在推斥極電壓的作用下，通過離子盒底部的一個小孔進入透鏡組，由于離子盒置于高真空中，為了維持離子盒中具有一定的化合物密度，離子盒上離子出射的孔不能開太大，一般在2-4mm之間。通過離子光學模擬軟件對目前的商用質譜上的離子盒進行電場模擬，顯示由于離子盒開孔較小的緣故，外部透鏡很難影響到離子盒內部的電場，離子盒內部的電場主要受到推斥極的影響，離子光學模擬顯示，大部分離子都撞在離子盒壁上，只有少部分離子(僅40％)能通過小孔進入離子源的透鏡組，離子傳輸效率低。
技術實現思路
為了解決上述現有技術方案中的不足，本專利技術提供了一種離子出射效率高的電子離子源，有助于提高化合物的離子化效率，提高質譜儀器的靈敏度。本專利技術的目的是通過以下技術方案實現的：一種電子電離源，所述電離源包括電子源、推斥電極、離子透鏡；所述電子電離源進一步包括：第一筒狀部件，所述電子源設置在所述第一筒狀部件的側部；所述推斥電極設置在兩端開口的第一筒狀部件內；環形部件，所述環形部件設置在所述第一筒狀部件的一側，其中遠離所述第一筒狀部件的一側具有出口，所述環形部件的中空內部的沿著離子出射方向的內徑逐漸收縮；第二筒狀部件，所述第二筒狀部件設置在所述出口內；所述離子透鏡設置在所述第二筒狀部件一側的沿著離子出射方向上。與現有技術相比，本專利技術具有的有益效果為：改變環形部件內的電場分布，使得產生的大部分離子都能聚焦到離子出口處，使大部分離子都能從離子盒出口出來，提高了離子出射效率，進而提高了氣相色譜-質譜儀器的靈敏度以滿足痕量檢測的需求。附圖說明參照附圖，本專利技術的公開內容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的是：這些附圖僅僅用于舉例說明本專利技術的技術方案，而并非意在對本專利技術的保護范圍構成限制。圖中：圖1是根據本專利技術實施例的電子電離源的剖視圖。具體實施方式圖1和以下說明描述了本專利技術的可選實施方式以教導本領域技術人員如何實施和再現本專利技術。為了教導本專利技術技術方案，已簡化或省略了一些常規方面。本領域技術人員應該理解源自這些實施方式的變型或替換將在本專利技術的范圍內。本領域技術人員應該理解下述特征能夠以各種方式組合以形成本專利技術的多個變型。由此，本專利技術并不局限于下述可選實施方式，而僅由權利要求和它們的等同物限定。實施例：圖1示意性地給出了本專利技術實施例的電子電離源的剖視圖，如圖1所示，所述電子離子源包括：電子源、推斥電極12、離子透鏡15；第一筒狀部件11，所述電子源設置在所述第一筒狀部件的側部；所述推斥電極設置在兩端開口的第一筒狀部件內；環形部件13，所述環形部件設置在所述第一筒狀部件的一側，其中遠離所述第一筒狀部件的一側為平板，平板的中心具有離子出口，所述環形部件的中空內部的沿著離子出射方向的內徑逐漸收縮，中空部分呈錐臺狀；第二筒狀部件14，所述第二筒狀部件設置在所述出口內；所述離子透鏡設置在所述第二筒狀部件一側的沿著離子出射方向上。上述電子離子源的工作過程為：電源為電子離子源的不同部件施加不同的直流電壓，如，在推斥極、第一筒狀部件、環形部件、第二筒狀部件及離子透鏡上施加的電壓值分別為：2V、0V、1V、-15V、-20V、-120V；化合物分析進入第一筒狀部件內，電子源產生的電子進入第一筒狀部件內，撞擊化合物分子使其離子化，環形部件產生的電場將離子聚焦在所述離子出口處，經過離子透鏡聚焦后進入質量分析器內。通過模擬顯示，60個質荷比為100的離子，只有5個離子被撞擊在離子盒體上，其它離子都能被聚焦傳輸到質量分析器中。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電子電離源，所述電離源包括電子源、推斥電極、離子透鏡；其特征在于：所述電子電離源進一步包括：第一筒狀部件，所述電子源設置在所述第一筒狀部件的側部；所述推斥電極設置在兩端開口的第一筒狀部件內；環形部件，所述環形部件設置在所述第一筒狀部件的一側，其中遠離所述第一筒狀部件的一側具有出口，所述環形部件的中空內部的沿著離子出射方向的內徑逐漸收縮；第二筒狀部件，所述第二筒狀部件設置在所述出口內；所述離子透鏡設置在所述第二筒狀部件一側的沿著離子出射方向上。

【技術特征摘要】
1.一種電子電離源，所述電離源包括電子源、推斥電極、離子透鏡；其特征在于：所述電子電離源進一步包括：第一筒狀部件，所述電子源設置在所述第一筒狀部件的側部；所述推斥電極設置在兩端開口的第一筒狀部件內；環形部件，所述環形部件設置在所述第一筒狀部件的一側，其...

【專利技術屬性】
技術研發人員：吳先偉，劉立鵬，鄧豐濤，韓雙來，鄭毅，
申請(專利權)人：聚光科技杭州股份有限公司，
類型：發明
國別省市：浙江;33