本發明專利技術屬于紅外測溫技術領域，特別涉及一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置，包括一個主紅外測溫儀、多個從紅外測溫儀以及處理模塊；所述的主紅外測溫儀掃描回轉窯窯體的任一軸線位置，從紅外測溫儀設置在回轉窯窯體的旁側且從紅外測溫儀沿回轉窯窯體的軸向掃描位置與主紅外測溫儀的測溫盲區相吻合；處理模塊根據主、從紅外測溫儀的位置信息以及回轉窯的轉速信息、從紅外測溫儀采集的溫度信息對主紅外測溫儀的溫度信息進行修正,還公開了其檢測方法。通過在主紅外測溫儀的測溫盲區設置從紅外測溫儀，并設置處理模塊，從而獲得完整的回轉窯溫度數據。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于紅外測溫
，特別涉及一種。
技術介紹
回轉窯是物料煅燒的關鍵工藝設備，而窯襯又是回轉窯生產中優質、高產、低消耗和長期安全運轉的關鍵因素，溫度過高、熱振蕩過大會嚴重損壞窯襯，甚至殃及窯體。在工業領域中，常使用高速紅外測溫掃描儀實現對回轉窯表面的溫度檢測。目前，一般根據回轉窯窯體的長度，配置一臺大角度視場角的紅外測溫掃描儀，讓紅外測溫掃描儀瞄準回轉窯窯體的某一軸線位置，當回轉窯轉動一周后，通過圖像拼接技術，實現對窯體表面360度的溫度檢測。由于回轉窯與紅外測溫掃描儀之前經常有一些支架、集熱罩、風管等建筑物，回轉窯部分局域被阻擋，從而造成很多測溫死角，這樣就存在很多無法檢測的地方。雖然可以通過在回轉窯周圍尋找合適的位置可以降低遮擋面積，但不管怎樣布置，都會存在檢測盲區。
技術實現思路
本專利技術的首要目的在于提供一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置，能夠完整的檢測回轉窯窯體溫度。為實現以上目的，本專利技術采用的技術方案為:一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置，包括一個主紅外測溫儀、多個從紅外測溫儀以及處理模塊;所述的主紅外測溫儀掃描回轉窯窯體的任一軸線位置，從紅外測溫儀設置在回轉窯窯體的旁側且從紅外測溫儀沿回轉窯窯體的軸向掃描位置與主紅外測溫儀的測溫盲區相吻合;處理模塊根據主、從紅外測溫儀的位置信息以及回轉窯的轉速信息、從紅外測溫儀采集的溫度信息對主紅外測溫儀的溫度信息進行修正。與現有技術相比，本專利技術存在以下技術效果:通過在主紅外測溫儀的測溫盲區設置從紅外測溫儀，再通過設置處理模塊根據主、從紅外測溫儀的布置位置以及回轉窯的轉速將從紅外測溫儀獲得的溫度數據代替主紅外測溫儀的測溫盲區數據，從而獲得完整的回轉窯溫度數據。本專利技術的另一個目的在于提供一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置的檢測方法，能夠完整的檢測回轉窯窯體溫度。為實現以上目的，本專利技術采用的技術方案為:一種如權利要求1所述的回轉窯多探頭無死角測溫裝置的檢測方法，包括如下步驟:(A)根據主紅外測溫儀相對于回轉窯的安裝位置、視場角得到主紅外測溫儀的測溫長度范圍；(B)根據從紅外測溫儀相對于回轉窯的安裝位置、視場角得到從紅外測溫儀的測溫長度范圍、測溫長度方向起點；(C)根據遮擋物相對于回轉窯的安裝位置得到主紅外測溫儀的測溫盲區；(D)根據步驟A、B、C，建立回轉窯軸向的溫度替代式，即用從紅外測溫儀的溫度點代替主紅外測溫儀在測溫盲區內的點；(E)根據步驟A、B得到從紅外測溫儀與主紅外測溫儀之間的角度差；(F)根據步驟E得到的角度差、回轉窯的轉速得到從紅外測溫儀與主紅外測溫儀的采集時間差，根據該時間差值建立從紅外測溫儀的溫度修正式；(G)根據步驟D的溫度替代式、步驟E的溫度修正式，不斷的用從紅外測溫儀的測溫點信號代替主紅外測溫儀測溫盲區的測溫點信號，得到正確的回轉窯窯體溫度。與現有技術相比，本專利技術存在以下技術效果:通過溫度替代式，可以得到主紅外測溫儀盲區位置中主、從紅外測溫儀溫度測點的對應關系，使得能夠用從紅外測溫儀測量的數據代替主紅外測溫儀測量的數據；同時，由于主、從紅外測溫儀的布置位置不同導致兩者掃描軸線不同，通過設置溫度修正式，可以對結果進行修正，使得檢測結果非常的準確?！靖綀D說明】圖1是本專利技術的原理框圖；圖2、3是本專利技術兩個不同視角的結構示意圖?！揪唧w實施方式】下面結合圖1至圖3，對本專利技術做進一步詳細敘述。參閱圖1，一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置，包括一個主紅外測溫儀10、多個從紅外測溫儀20以及處理模塊30;所述的主紅外測溫儀10掃描回轉窯40窯體的任一軸線位置，從紅外測溫儀20設置在回轉窯40窯體的旁側且從紅外測溫儀20沿回轉窯40窯體的軸向掃描位置與主紅外測溫儀10的測溫盲區相吻合;處理模塊30根據主、從紅外測溫儀10、20的位置信息以及回轉窯40的轉速信息、從紅外測溫儀20采集的溫度信息對主紅外測溫儀10的溫度信息進行修正。通過在主紅外測溫儀10的測量盲區設置從紅外測溫儀20，然后將從紅外測溫儀20采集到的數據替換掉主紅外測溫儀10采集到的數據中對應測溫盲區的數據，這樣就實現了回轉窯40窯體的全面準確的測量，避免了因為遮擋物50的存在而導致的測溫不全面現象。參閱圖2、圖3，作為本專利技術的優選方案，所述的主紅外測溫儀10按如下步驟布置:(SI)確定回轉窯40的測溫起點和測溫終點位置；(S2)確定遮擋物50相對測溫起點位置及相對回轉窯40的位置；(S3)根據步驟S1、S2得到主紅外測溫儀10的最佳位置及所需視場角。之所以要確定主紅外測溫儀10的最佳位置，一是保證測溫盲區盡可能的小，二是保證測溫盲區盡可能的少。測溫盲區小，需要替換的數據就少；測溫盲區少，所需要的從紅外測溫儀20就少。優選地，所述的從紅外測溫儀20按如下步驟布置:(S4)根據主紅外測溫儀10的布置位置確定測溫盲區的個數和范圍以及各測溫盲區內包含的測溫點數；(S5)在避開遮擋物50的位置布置從紅外測溫儀20監測主紅外測溫儀10的測溫盲區，從紅外測溫儀20的個數與測溫盲區的個數相吻合，所述從紅外測溫儀20在測溫盲區的測溫點數不少于主紅外測溫儀10在不受遮擋情況下測溫盲區的測溫點數。一般來說，每個測溫盲區都會對應設置一個從紅外測溫儀20，但是如果兩個測溫盲區小且鄰近布置，這個時候就可以用一個從紅外測溫儀20對這兩個測溫盲區進行掃描。從紅外測溫儀20的具體數量，可以根據實際情況進行選擇。更進一步地，本專利技術還公開了一種如前所述的回轉窯多探頭無死角測溫裝置的檢測方法，包括如下步驟:(A)根據主紅外測溫儀10相對于回轉窯40的安裝位置、視場角得到主紅外測溫儀10的測溫長度范圍；(B)根據從紅外測溫儀20相對于回轉窯40的安裝位置、視場角得到從紅外測溫儀20的測溫長度范圍、測溫長度方向起點；(C)根據遮擋物50相對于回轉窯40的安裝位置得到主紅外測溫儀10的測溫盲區；(D)根據步驟A、B、C，建立回轉窯40軸向的溫度替代式，即用從紅外測溫儀20的測溫點代替主紅外測溫儀10在測溫盲區內的測溫點；(E)根據步驟A、B得到從紅外測溫儀20與主紅外測溫儀10之間的角度差；(F)根據步驟E得到的角度差、回轉窯40的轉速得到從紅外測溫儀20與主紅外測溫儀10的采集時間差，根據該時間差值建立從紅外測溫儀20的溫度修正式；(G)根據步驟D的溫度替代式、步驟E的溫度修正式，用從紅外測溫儀20的測溫點信號代替主紅外測溫儀10測溫盲區的測溫點信號，得到正確的回轉窯40窯體溫度。通過上述步驟，可以實現回轉窯40窯體溫度的無死角測量。【主權項】1.一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置，其特征在于:包括一個主紅外測溫儀(10)、多個從紅外測溫儀(20)以及處理模塊(30);所述的主紅外測溫儀(10)掃描回轉窯(40)窯體的任一軸線位置，從紅外測溫儀(20)設置在回轉窯(40)窯體的旁側且從紅外測溫儀(20)沿回轉窯(40)窯體的軸向掃描位置與主紅外測溫儀(10)的測溫盲區相吻合;處理模塊(30)根據主、從紅外測溫儀(10、20)的位置信息以及回轉窯(40)的轉速信息、從紅外測溫儀(20)采集的溫度信息對主紅外測溫儀(10)的溫度信息進行修正。2.如權利要求1所述的回轉窯多探頭無死角測溫裝置，其特征在于:所述的主紅外測溫儀(10本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種回轉窯多探頭無死角測溫裝置，其特征在于：包括一個主紅外測溫儀(10)、多個從紅外測溫儀(20)以及處理模塊(30)；所述的主紅外測溫儀(10)掃描回轉窯(40)窯體的任一軸線位置，從紅外測溫儀(20)設置在回轉窯(40)窯體的旁側且從紅外測溫儀(20)沿回轉窯(40)窯體的軸向掃描位置與主紅外測溫儀(10)的測溫盲區相吻合；處理模塊(30)根據主、從紅外測溫儀(10、20)的位置信息以及回轉窯(40)的轉速信息、從紅外測溫儀(20)采集的溫度信息對主紅外測溫儀(10)的溫度信息進行修正。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：徐勇，汪升，曹明潤，王騰飛，張亞東，姚佳佳，張衛星，萬力，劉樹峰，周旸旻，高鑫，鄭明生，湯玉美，王艷，
申請(專利權)人：合肥金星機電科技發展有限公司，
類型：發明
國別省市：安徽;34
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