具有磁分析功能的X射線衍射裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術涉及具有磁分析功能的X射線衍射裝置。一種X射線衍射裝置可包括：樣品臺，其上用于固定載玻片，所述載玻片上安裝有樣品；X射線源，用于照射X射線到所述樣品上；檢測器，用于檢測經所述樣品反射的X射線；以及磁場發(fā)生器，用于產生并且向所述樣品施加磁場。除了傳統功能之外，所述X射線衍射裝置還能實現一定的磁分析功能，因而能夠在一定程度上代替中子衍射裝置來使用。

【技術實現步驟摘要】
201610133044

【技術保護點】
一種X射線衍射裝置，包括：樣品臺，其上用于固定載玻片，所述載玻片上安裝有樣品；X射線源，用于照射X射線到所述樣品上；檢測器，用于檢測經所述樣品反射或透射的X射線；以及磁場發(fā)生器，用于產生并且向所述樣品施加磁場。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：王利晨，雷雨，許志一，趙瑩瑩，
申請(專利權)人：王利晨，雷雨，許志一，趙瑩瑩，
類型：發(fā)明
國別省市：北京;11