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本發明涉及具有磁分析功能的X射線衍射裝置。一種X射線衍射裝置可包括：樣品臺，其上用于固定載玻片，所述載玻片上安裝有樣品；X射線源，用于照射X射線到所述樣品上；檢測器，用于檢測經所述樣品反射的X射線；以及磁場發生器，用于產生并且向所述樣品施加...該專利屬于王利晨;雷雨;許志一;趙瑩瑩所有，僅供學習研究參考，未經過王利晨;雷雨;許志一;趙瑩瑩授權不得商用。
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本發明涉及具有磁分析功能的X射線衍射裝置。一種X射線衍射裝置可包括：樣品臺，其上用于固定載玻片，所述載玻片上安裝有樣品；X射線源，用于照射X射線到所述樣品上；檢測器，用于檢測經所述樣品反射的X射線；以及磁場發生器，用于產生并且向所述樣品施加...