一種測定ZSM-23分子篩晶胞參數的粉末X射線衍射方法技術

本發明專利技術公開了一種測定ZSM-23分子篩晶胞參數的粉末X射線衍射方法，包括：步驟一，將ZSM-23分子篩樣品經過研磨、過篩、焙燒活化和室溫恒濕處理得到ZSM-23分子篩待測試樣；步驟二，在相同的粉末X射線衍射儀工作條件下，將所述ZSM-23分子篩待測試樣與NIST云母標樣分別壓入相應的粉末X射線衍射儀樣品架中，進行試樣衍射峰角度校正測定并收集粉末X射線衍射數據；步驟三，在用NIST云母標樣校正衍射峰角度之后，根據正交晶系晶面間距公式，計算所述ZSM-23分子篩樣品的晶胞參數。

【技術實現步驟摘要】
201410766771

【技術保護點】
一種測定ZSM?23分子篩晶胞參數的粉末X射線衍射方法，其特征在于，包括：步驟一，將ZSM?23分子篩樣品經過研磨、過篩、焙燒活化和室溫恒濕處理得到ZSM?23分子篩待測試樣；步驟二，在相同的粉末X射線衍射儀工作條件下，將所述ZSM?23分子篩待測試樣與NIST云母標樣分別壓入相應的粉末X射線衍射儀樣品架中，進行試樣衍射峰角度校正測定并收集粉末X射線衍射數據；步驟三，在用NIST云母標樣校正衍射峰角度之后，根據正交晶系晶面間距公式，計算所述ZSM?23分子篩樣品的晶胞參數。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：李瑞峰，王秀繪，
申請(專利權)人：中國石油天然氣股份有限公司，
類型：發明
國別省市：北京;11