【技術實現步驟摘要】
201610076777
【技術保護點】
一種在空間頻率域進行像素響應函數測量的方法,包括:步驟1)、利用陣列探測器采集四步相移正弦條紋圖像以及對應的暗場圖像;步驟2)、對步驟1)獲得的四步相移正弦條紋圖像進行預處理;其中,所述預處理包括:對所述正弦條紋圖像進行多幀平均,然后根據正弦條紋圖像所對應的暗場圖像扣除暗噪聲、本底噪聲,獲得經過預處理之后的四步相移正弦條紋圖像;步驟3)、改變條紋傾向和條紋間距,重復步驟1)、步驟2),直至四步相移正弦條紋圖像的空間頻率覆蓋設定的頻譜范圍;步驟4)、利用之前所得到的所有經過預處理之后的四步相移正弦條紋圖像,計算每個像素的頻域的像素響應函數;步驟5)、步驟4)所得到的每個像素的頻域的像素響應函數通過逆傅里葉變換計算得到對應的空間域的像素響應函數,進而得到總的空間域的像素響應函數;步驟6)、增大應用于逆傅里葉變換中的截止頻率,重復步驟1)—步驟5),再次得到空間域的像素響應函數;其中,所述截止頻率是指一個頻率區間的兩個端點的頻率值;步驟7)、將步驟6)得到的空間域的像素響應函數與前一次得到的空間域的像素響應函數進行比較,如果差別在誤差允許的范圍內,此時得到的空間域的像素響應函數就是滿足測量要 ...
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員:李海濤,李保權,
申請(專利權)人:中國科學院國家空間科學中心,
類型:發明
國別省市:北京;11
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