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本發明涉及一種在空間頻率域進行像素響應函數測量的方法,包括:利用陣列探測器采集四步相移正弦條紋圖像;對四步相移正弦條紋圖像進行預處理;改變條紋傾向和條紋間距,重復之前步驟,直至空間頻率覆蓋設定的頻譜范圍;計算每個像素的頻域的像素響應函數;每...該專利屬于中國科學院國家空間科學中心所有,僅供學習研究參考,未經過中國科學院國家空間科學中心授權不得商用。
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本發明涉及一種在空間頻率域進行像素響應函數測量的方法,包括:利用陣列探測器采集四步相移正弦條紋圖像;對四步相移正弦條紋圖像進行預處理;改變條紋傾向和條紋間距,重復之前步驟,直至空間頻率覆蓋設定的頻譜范圍;計算每個像素的頻域的像素響應函數;每...