一種同軸度檢具制造技術

本發明專利技術提供了一種同軸度檢具，包括工作臺、底座、托墊、檢測支架和檢測機構；所述底座固接于工作臺上，所述托墊設置于底座上并能繞托墊軸心轉動，所述托墊的上端面上設有多個與待加工工件上方形孔相配合的方形柱；所述檢測支架一端滑動設置于工作臺，另一端可伸入底座內且與待加工工件的內孔相垂直接觸；所述檢測機構包括測量儀和頂塊，所述測量儀可隨著檢測支架同步移動，所述頂塊固接于工作臺上，且所述測量儀的測頭端部和頂塊始終相垂直接觸。本發明專利技術的有益效果：能夠實現工件在現場直接進行檢測，能夠滿足檢測頻次的要求。

Coaxial gauge

The invention provides a axiality, including working table, a base, support pad, detection bracket and detection mechanism; the base is fixedly connected with a worktable, wherein the supporting pad is arranged on the base and can rotate around the supporting axis, the upper end of the supporting column is provided with a square pad a plurality of holes and matched with the workpiece to be machined; the detection bracket is sliding arranged on the working table, the other end can be inserted into the base and the workpiece to be machined inner hole of the vertical contact; the detecting mechanism includes a measuring instrument and the top block, the measuring instrument can be detected with stent move simultaneously, the the top block is fixed on the table, and the measuring instrument for measuring head end and the top block is always perpendicular to the contact. The invention has the advantages that the workpiece can be directly detected on the spot, and the detection frequency can be met.

【技術實現步驟摘要】

本專利技術屬于檢具
，尤其是涉及一種同軸度檢具。
技術介紹
對于圖1中所示的工件，在對其進行同軸度檢測時，現有技術中不能直接在現場進行檢測，只能將工件送至檢測中心使用設備進行檢測。因而，不能滿足檢測頻次的要求，導致檢測效率較低，影響生產。
技術實現思路
有鑒于此，本專利技術旨在提出一種同軸度檢具，以解決該工件不能實現現場檢測，檢測效率較低的問題。為達到上述目的，本專利技術的技術方案是這樣實現的：一種同軸度檢具，包括工作臺、底座、托墊、檢測支架和檢測機構；所述底座固接于工作臺上，所述托墊設置于底座上并能繞托墊軸心轉動，所述托墊的上端面上設有多個與待加工工件上方形孔相配合的方形柱；所述檢測支架一端滑動設置于工作臺，另一端可伸入底座內且與待加工工件的內孔相垂直接觸；所述檢測機構包括測量儀和頂塊，所述測量儀可隨著檢測支架同步移動，所述頂塊固接于工作臺上，且所述測量儀的測頭端部和頂塊始終相垂直接觸。進一步的，所述檢測支架平行固接于滑動座上，所述滑動座滑動設置于滑道上，所述滑道水平設置且固接于工作臺，所述測量儀平行固接于滑動座上。進一步的，所述滑動座與底座之間的工作臺上固接有擋塊；所述擋塊的上部垂直固接有一圓軸，與圓軸同一軸心線的滑動座上開有盲孔，圓軸上套有彈簧，所述彈簧一端置于圓軸上，另一端伸入該盲孔內。進一步的，：所述底座包括同軸設置的上部和下部，上部設置為圓柱形，>其下部可以為圓柱、方形體任意一種，其上部的尺寸小于下部的尺寸，所述托墊套接于底座的上部。進一步的，所述托墊上開有一階梯孔，所述階梯孔的上孔直徑大于下孔直徑，且下孔的深度與底座的上部的高度相等。進一步的，所述檢測支架包括橫桿和豎桿，其橫桿的一端固接于滑動座上，另一端與豎桿固接，所述豎桿的端部垂直固接有檢測桿。進一步的，所述測量儀通過卡塊將其固接于滑動座上。進一步的，所述托墊的上孔內設有擋板。進一步的，所述滑動座上連接有操縱機構，所述操縱機構可以為手柄。進一步的，所述檢測桿的端部是不可伸縮的，其與待加工工件內孔相接觸的端部設置為球頭結構。相對于現有技術，本專利技術所述的一種同軸度檢具具有以下優勢：(1)能夠實現工件在現場直接進行檢測，能夠滿足檢測頻次的要。(2)該檢具結構簡單，操作方便、靈活，實用性較好。附圖說明構成本專利技術的一部分的附圖用來提供對本專利技術的進一步理解，本專利技術的示意性實施例及其說明用于解釋本專利技術，并不構成對本專利技術的不當限定。在附圖中：圖1為本專利技術待加工工件的剖視圖；圖2為本專利技術實施例所述的一種同軸度檢具的縱剖示意圖；圖3為圖1所示的底座的局部剖視圖；圖4為圖1所示的托墊的剖視圖；圖5為圖1所示的測頭支架的局部剖視圖；圖6為圖1中去除一部分部件的側視圖。附圖標記說明：1-工作臺；2-底座；3-托墊；4-擋板；5-測頭支架；51-檢測桿；6-工件；7-滑動座；8-滑道；9-彈簧；10-擋塊；11-檢測機構；12-手柄；21-上部；22-下部；23-長槽；31-階梯孔；32-方形柱；51-檢測桿；52-橫桿；53-豎桿；111-測量儀；112-頂塊；113-卡塊。具體實施方式需要說明的是，在不沖突的情況下，本專利技術中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。在本專利技術的描述中，需要理解的是，術語“中心”、“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本專利技術和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本專利技術的限制。此外，術語“第一”、“第二”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本專利技術的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。在本專利技術的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以通過具體情況理解上述術語在本專利技術中的具體含義。下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本專利技術。一種同軸度檢具，參照附圖2所示，包括工作臺1、底座2、托墊3、擋板4、檢測支架5、滑動座7和檢測機構11；底座2固接于工作臺1上，托墊3與底座2同軸設置，且設置與底座2的上部。參照附圖3所示，具體地，底座2包括同軸設置的上部21和下部22，上部21設置為圓柱形，其下部22可以為圓柱、方形體任意一種。優選的，其上部21的尺寸小于下部22的尺寸，該設計方便將托墊3套接于上部21上。參照附圖4所示，托墊3上開有一階梯孔31，階梯孔31的上孔直徑大于下孔直徑，其下孔直徑與底座2的上部21間隙配合，且下孔的深度與底座2的上部21的高度相等；托墊3的上端面上設有多個與工件6上方形孔相配合的方形柱32，進而將工件6放置在托墊3上，采用工件6的方形孔進行定位。這樣，托墊3既能用于工件6的定位；另一方面，托墊3套接于底座2的上部21，能夠帶動工件6可繞其軸心轉動一周實現下一步的檢測。為了避免拆卸工件6時，工件6與托墊3一起被提起，特別地，擋板4的長度介于上孔直徑與下孔直徑之間，這樣使擋板4設置于托墊3的上孔內，由于底座2的上端面與階梯孔31的上孔與下孔的接觸平面平齊，這樣方便通過螺釘將擋板4固接于底座2的上部。為了實現對上述工件6的間接檢測，檢測支架5活動設置于底座2的一側，且能伸入工件6內孔。參照附圖5所示，具體地，檢測支架5包括橫桿52和豎桿53，橫桿52和豎桿53垂直設置，豎桿53的端部垂直固接有檢測桿51。特別的，底座2的中部開有一條貫通底座2兩側面的長槽23；該長槽23的軸心線與橫桿52的軸心線相平行，以保證檢測支架5能夠伸入工件6內進行檢測。檢測支架5平行固接于滑動座7上，滑動座7設置于滑道8上，滑道8的延伸方向與檢測支架5的橫桿52軸心線相平行，滑動座7能沿著滑道8的延伸方向移動。參照附圖6所示，為了實現對上述工件6本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種同軸度檢具，其特征在于，包括工作臺(1)、底座(2)、托墊(3)、檢測支架(5)和檢測機構(11)；所述底座(2)固接于工作臺(1)上，所述托墊(3)設置于底座(2)上并能繞托墊(3)軸心轉動，所述托墊(3)的上端面上設有多個與待加工工件(6)上方形孔相配合的方形柱(32)；所述檢測支架(5)一端滑動設置于工作臺(1)，另一端可伸入底座(2)內且與待加工工件(6)的內孔相垂直接觸；所述檢測機構(11)包括測量儀(111)和頂塊(112)，所述測量儀(111)可隨著檢測支架(5)同步移動，所述頂塊(112)固接于工作臺(1)上，且所述測量儀(111)的測頭端部和頂塊(112)始終相垂直接觸。

【技術特征摘要】
1.一種同軸度檢具，其特征在于，包括工作臺(1)、底座(2)、托
墊(3)、檢測支架(5)和檢測機構(11)；
所述底座(2)固接于工作臺(1)上，所述托墊(3)設置于底座(2)
上并能繞托墊(3)軸心轉動，所述托墊(3)的上端面上設有多個與待加工
工件(6)上方形孔相配合的方形柱(32)；
所述檢測支架(5)一端滑動設置于工作臺(1)，另一端可伸入底座(2)
內且與待加工工件(6)的內孔相垂直接觸；
所述檢測機構(11)包括測量儀(111)和頂塊(112)，所述測量儀(111)
可隨著檢測支架(5)同步移動，所述頂塊(112)固接于工作臺(1)上，
且所述測量儀(111)的測頭端部和頂塊(112)始終相垂直接觸。
2.根據權利要求1所述的一種同軸度檢具，其特征在于：所述檢測支
架(5)平行固接于滑動座(7)上，所述滑動座(7)滑動設置于滑道(8)
上，所述滑道(8)水平設置且固接于工作臺(1)，所述測量儀(111)平
行固接于滑動座(7)上。
3.根據權利要求2所述的一種同軸度檢具，其特征在于：所述滑動座7
與底座(2)之間的工作臺(1)上固接有擋塊(10)；
所述擋塊(10)的上部垂直固接有一圓軸，與圓軸同一軸心線的滑動座
(7)上開有盲孔，所述圓軸上套有彈簧(9)，所述彈簧(9)一端置于圓
軸上，另一端伸入該盲孔內。
4.根據權利要求1...

【專利技術屬性】
技術研發人員：周春建，
申請(專利權)人：天津天海同步科技有限公司，
類型：發明
國別省市：天津;12